MICROCHIP AN2648 Valg og test af 32.768 kHz krystaloscillatorer til AVR-mikrocontrollere

Indledning

Forfattere: Torbjørn Kjørlaug og Amund Aune, Microchip Technology Inc.
Denne applikationsnote opsummerer det grundlæggende krystal, overvejelser om PCB-layout, og hvordan man tester en krystal i din applikation. En krystalvalgsguide viser anbefalede krystaller testet af eksperter og fundet egnede til forskellige oscillatormoduler i forskellige Microchip AVR®-familier. Testfirmware og testrapporter fra forskellige krystalleverandører er inkluderet.

Funktioner

• Grundlæggende om krystaloscillator
• Overvejelser om PCB-design
• Test af krystal robusthed
• Test firmware inkluderet
• Krystalanbefalingsvejledning

Grundlæggende om krystaloscillator

Indledning

En krystaloscillator bruger den mekaniske resonans af et vibrerende piezoelektrisk materiale til at generere et meget stabilt ursignal. Frekvensen bruges normalt til at give et stabilt ursignal eller holde styr på tiden; derfor er krystaloscillatorer meget udbredt i radiofrekvensapplikationer (RF) og tidsfølsomme digitale kredsløb.
Krystaller er tilgængelige fra forskellige leverandører i forskellige former og størrelser og kan variere meget i ydeevne og specifikationer. At forstå parametrene og oscillatorkredsløbet er afgørende for en robust applikation, der er stabil over variationer i temperatur, fugtighed, strømforsyning og proces.
Alle fysiske genstande har en naturlig vibrationsfrekvens, hvor vibrationsfrekvensen er bestemt af dens form, størrelse, elasticitet og lydhastighed i materialet. Piezoelektrisk materiale forvrænges, når et elektrisk felt påføres og genererer et elektrisk felt, når det vender tilbage til sin oprindelige form. Det mest almindelige anvendte piezoelektriske materiale
i elektroniske kredsløb er en kvartskrystal, men keramiske resonatorer bruges også - generelt i billige eller mindre timing-kritiske applikationer. 32.768 kHz krystaller skæres normalt i form af en stemmegaffel. Med kvartskrystaller kan der etableres meget præcise frekvenser.

Figur 1-1. Form af en 32.768 kHz stemmegaffel krystal

Oscillatoren

Barkhausens stabilitetskriterier er to betingelser, der bruges til at bestemme, hvornår et elektronisk kredsløb vil oscillere. De siger, at hvis A er gevinsten af ampforstærkende element i det elektroniske kredsløb og β(jω) er tilbagekoblingsvejens overføringsfunktion, stabile oscillationer vil kun blive opretholdt ved frekvenser, for hvilke:

• Sløjfeforstærkningen er lig med enhed i absolut størrelse, |βA| = 1
• Faseforskydningen omkring sløjfen er nul eller et heltalsmultipel af 2π, dvs. ∠βA = 2πn for n ∈ 0, 1, 2, 3...

Det første kriterium vil sikre en konstant amplitude signal. Et tal mindre end 1 vil dæmpe signalet, og et tal større end 1 vil ampløft signalet til det uendelige. Det andet kriterium vil sikre en stabil frekvens. For andre faseforskydningsværdier vil sinusbølgeoutputtet blive annulleret på grund af feedbacksløjfen.

Figur 1-2. Feedback loop

32.768 kHz-oscillatoren i Microchip AVR-mikrocontrollere er vist i figur 1-3 og består af en inverterende
amplifier (intern) og en krystal (ekstern). Kondensatorer (CL1 og CL2) repræsenterer intern parasitisk kapacitans. Nogle AVR-enheder har også valgbare interne belastningskondensatorer, som kan bruges til at reducere behovet for eksterne belastningskondensatorer, afhængigt af den anvendte krystal.
Det omvendte amplifier giver en π radian (180 grader) faseforskydning. Den resterende π radianfaseforskydning tilvejebringes af krystallen og den kapacitive belastning ved 32.768 kHz, hvilket forårsager en total faseforskydning på 2π radian. Under opstarten amplifier output vil stige, indtil steady-state oscillation er etableret med en sløjfeforstærkning på 1, hvilket bevirker, at Barkhausen-kriterierne er opfyldt. Dette styres automatisk af AVR-mikrocontrollerens oscillatorkredsløb.

Figur 1-3. Pierce Crystal Oscillator Circuit i AVR®-enheder (forenklet)

Elektrisk model

Det ækvivalente elektriske kredsløb for en krystal er vist i figur 1-4. Seriens RLC-netværk kaldes bevægelsesarmen og giver en elektrisk beskrivelse af krystallens mekaniske opførsel, hvor C1 repræsenterer kvartsens elasticitet, L1 repræsenterer den vibrerende masse, og R1 repræsenterer tab som følge af d.amping. C0 kaldes shunt eller statisk kapacitans og er summen af ​​den elektriske parasitiske kapacitans på grund af krystalhuset og elektroderne. Hvis en
Kapacitansmåler bruges til at måle krystalkapacitansen, kun C0 vil blive målt (C1 har ingen effekt).

Figur 1-4. Krystaloscillatorækvivalent kredsløb

Ved at bruge Laplace-transformationen kan to resonansfrekvenser findes i dette netværk. Serien giver resonans
frekvens, fs, afhænger kun af C1 og L1. Parallel- eller antiresonansfrekvensen, fp, inkluderer også C0. Se figur 1-5 for karakteristika for reaktans vs. frekvens.

Ligning 1-1. Serie resonansfrekvens

Ligning 1-2. Parallel resonansfrekvens

Figur 1-5. Krystalreaktansegenskaber

Krystaller under 30 MHz kan fungere ved enhver frekvens mellem serie- og parallelle resonansfrekvenser, hvilket betyder, at de er induktive i drift. Højfrekvente krystaller over 30 MHz drives normalt ved serieresonansfrekvensen eller overtonefrekvenser, som forekommer ved multipla af grundfrekvensen. Tilføjelse af en kapacitiv belastning, CL, til krystallen vil forårsage et skift i frekvens givet af ligning 1-3. Krystalfrekvensen kan indstilles ved at variere belastningskapacitansen, og det kaldes frekvenstræk.

Ligning 1-3. Skiftet parallel resonansfrekvens

Equivalent Series Resistance (ESR)

Den ækvivalente seriemodstand (ESR) er en elektrisk repræsentation af krystallens mekaniske tab. Ved serien
resonansfrekvens, fs, er den lig med R1 i den elektriske model. ESR er en vigtig parameter og kan findes i krystaldatabladet. ESR vil normalt være afhængig af krystallens fysiske størrelse, hvor mindre krystaller
(især SMD-krystaller) har typisk højere tab og ESR-værdier end større krystaller.
Højere ESR-værdier giver en højere belastning på inverteringen amplifier. For høj ESR kan forårsage ustabil oscillatordrift. Enhedsgevinst kan i sådanne tilfælde ikke opnås, og Barkhausen-kriteriet er muligvis ikke opfyldt.

Q-faktor og stabilitet

Krystallens frekvensstabilitet er givet af Q-faktoren. Q-faktoren er forholdet mellem energien lagret i krystallen og summen af ​​alle energitab. Typisk har kvartskrystaller Q i intervallet 10,000 til 100,000 sammenlignet med måske 100 for en LC-oscillator. Keramiske resonatorer har lavere Q end kvartskrystaller og er mere følsomme over for ændringer i kapacitiv belastning.

Ligning 1-4. Q-faktorFlere faktorer kan påvirke frekvensstabiliteten: Mekanisk belastning induceret af montering, stød- eller vibrationsbelastning, variationer i strømforsyning, belastningsimpedans, temperatur, magnetiske og elektriske felter og krystalældning. Krystalleverandører angiver normalt sådanne parametre i deres datablade.

Opstartstid

Under opstart, invertering amplivligere ampafdæmper støj. Krystallen vil fungere som et båndpasfilter og tilbageføre kun krystalresonansfrekvenskomponenten, som derefter ampliificeret. Før der opnås steady-state oscillation, vil sløjfeforstærkningen af ​​krystallen/invertering amplifier loop er større end 1 og signalet amplituden vil stige. Ved steady-state oscillation vil loop gain opfylde Barkhausen kriterierne med en loop gain på 1 og konstant amplitude.
Faktorer, der påvirker opstartstiden:

• Høj-ESR-krystaller vil starte langsommere end lav-ESR-krystaller
• Høj Q-faktor krystaller vil starte langsommere end lav Q-faktor krystaller
• Høj belastningskapacitans vil øge opstartstiden
• Oscillator amplifier drevkapacitet (se flere detaljer om oscillatorgodtgørelse i afsnit 3.2, Negativ modstandstest og sikkerhedsfaktor)

Derudover vil krystalfrekvensen påvirke opstartstiden (hurtigere krystaller starter hurtigere), men denne parameter er fast for 32.768 kHz krystaller.

Figur 1-6. Opstart af en krystaloscillator

Temperaturtolerance

Typiske stemmegaffelkrystaller skæres normalt for at centrere den nominelle frekvens ved 25°C. Over og under 25°C vil frekvensen falde med en parabolsk karakteristik, som vist i figur 1-7. Frekvensskiftet er givet ved
Ligning 1-5, hvor f0 er målfrekvensen ved T0 (typisk 32.768 kHz ved 25°C), og B er temperaturkoefficienten givet af krystaldataarket (typisk et negativt tal).

Ligning 1-5. Effekt af temperaturvariation

Figur 1-7. Typiske temperatur vs. frekvenskarakteristika for en krystal

Drive Styrke

Styrken af ​​krystaldriverkredsløbet bestemmer karakteristikaene for sinusbølgeoutputtet fra krystaloscillatoren. Sinusbølgen er den direkte input til mikrocontrollerens digitale urindgangspin. Denne sinusbølge skal let spænde over input minimum og maksimum voltage niveauer af krystaldriverens input-pin, mens den ikke er klippet, fladtrykt eller forvrænget ved spidserne. En for lav sinusbølge amplituden viser, at krystalkredsløbsbelastningen er for tung for driveren, hvilket fører til potentiel oscillationsfejl eller forkert aflæst frekvensinput. For højt amplitude betyder, at sløjfeforstærkningen er for høj og kan føre til, at krystallen hopper til et højere harmonisk niveau eller permanent skade på krystallen.
Bestem krystallens outputkarakteristika ved at analysere XTAL1/TOSC1 pin vol.tage. Vær opmærksom på, at en sonde forbundet til XTAL1/TOSC1 fører til ekstra parasitisk kapacitans, som der skal tages højde for.
Sløjfeforstærkningen påvirkes negativt af temperatur og positivt af voltage (VDD). Det betyder, at drevegenskaberne skal måles ved den højeste temperatur og laveste VDD, og ​​den laveste temperatur og højeste VDD, hvor applikationen er specificeret til at fungere.
Vælg en krystal med lavere ESR eller kapacitiv belastning, hvis sløjfeforstærkningen er for lav. Hvis sløjfeforstærkningen er for høj, kan der tilføjes en seriemodstand, RS, til kredsløbet for at dæmpe udgangssignalet. Nedenstående figur viser et example af et forenklet krystaldriverkredsløb med en tilføjet seriemodstand (RS) ved udgangen af ​​XTAL2/TOSC2-stiften.

Figur 1-8. Crystal Driver med tilføjet seriemodstand

PCB-layout og designovervejelser

Selv de bedst ydende oscillatorkredsløb og højkvalitetskrystaller vil ikke fungere godt, hvis man ikke nøje overvejer layoutet og materialerne, der bruges under samlingen. Ultra-laveffekt 32.768 kHz oscillatorer spreder typisk betydeligt under 1 μW, så strømmen, der flyder i kredsløbet, er ekstremt lille. Derudover er krystalfrekvensen meget afhængig af den kapacitive belastning.
For at sikre oscillatorens robusthed anbefales disse retningslinjer under PCB-layout:

• Signallinjer fra XTAL1/TOSC1 og XTAL2/TOSC2 til krystallen skal være så korte som muligt for at reducere parasitisk kapacitans og øge støj- og krydstaleimmunitet. Brug ikke stikkontakter.
• Beskyt krystal- og signallinjerne ved at omgive dem med et jordplan og beskyttelsesring
• Rut ikke digitale linjer, især clock-linjer, tæt på krystallinjerne. For flerlags printkort skal du undgå at dirigere signaler under krystallinjerne.
• Brug højkvalitets PCB og loddematerialer
• Støv og fugt vil øge parasitisk kapacitans og reducere signalisolering, så beskyttende belægning anbefales

Test af krystaloscillations robusthed

Indledning

AVR-mikrocontrollerens 32.768 kHz krystaloscillatordriver er optimeret til lavt strømforbrug, og dermed
krystaldriverstyrken er begrænset. Overbelastning af krystaldriveren kan medføre, at oscillatoren ikke starter, eller det kan det
blive påvirket (stoppet midlertidigt, f.eksample) på grund af en støjspids eller øget kapacitiv belastning forårsaget af forurening eller nærhed af en hånd.
Vær forsigtig, når du vælger og tester krystallen for at sikre korrekt robusthed i din applikation. Krystallens to vigtigste parametre er Equivalent Series Resistance (ESR) og Load Capacitance (CL).
Ved måling af krystaller skal krystallen placeres så tæt som muligt på 32.768 kHz oscillatorstifterne for at reducere parasitisk kapacitans. Generelt anbefaler vi altid at foretage målingen i din endelige ansøgning. En brugerdefineret PCB-prototype indeholdende mindst mikrocontrolleren og krystalkredsløbet kan også give nøjagtige testresultater. Til indledende test af krystallen kan det være tilstrækkeligt at bruge et udviklings- eller startsæt (f.eks. STK600).
Vi anbefaler ikke at tilslutte krystallen til XTAL/TOSC-udgangsheaderne for enden af ​​STK600, som vist i figur 3-1, fordi signalvejen vil være meget følsom over for støj og dermed tilføje ekstra kapacitiv belastning. Lodning af krystallen direkte til ledningerne vil dog give gode resultater. For at undgå ekstra kapacitiv belastning fra stikket og routingen på STK600, anbefaler vi at bøje XTAL/TOSC-ledningerne opad, som vist i figur 3-2 og figur 3-3, så de ikke rører fatningen. Krystaller med ledninger (hulmonteret) er nemmere at håndtere, men det er også muligt at lodde SMD direkte til XTAL/TOSC ledningerne ved at bruge stiftforlænger, som vist i figur 3-4. Lodning af krystaller til pakker med snæver stiftafstand er også muligt, som vist i figur 3-5, men det er en smule vanskeligere og kræver en stabil hånd.

Figur 3-1. STK600 Testopsætning

Da en kapacitiv belastning vil have en betydelig effekt på oscillatoren, må du ikke sondere krystallen direkte, medmindre du har udstyr af høj kvalitet beregnet til krystalmålinger. Standard 10X oscilloskopprober påfører en belastning på 10-15 pF og vil således have stor indflydelse på målingerne. Berøring af stifterne på en krystal med en finger eller en 10X sonde kan være tilstrækkeligt til at starte eller stoppe svingninger eller give falske resultater. Firmware til udsendelse af clock-signalet til en standard I/O-pin leveres sammen med denne applikationsnote. I modsætning til XTAL/TOSC-indgangsbenene kan I/O-ben, der er konfigureret som bufferudgange, sonderes med standard 10X oscilloskopprober uden at påvirke målingerne. Flere detaljer kan findes i afsnit 4, Test firmware.

Figur 3-2. Krystal loddet direkte til bøjede XTAL/TOSC-ledninger

Figur 3-3. Krystal loddet i STK600 fatning

Figur 3-4. SMD krystal loddet direkte til MCU ved hjælp af stiftforlængelser

Figur 3-5. Krystal loddet til 100-pin TQFP-pakke med smal stiftdeling

Negativ modstandstest og sikkerhedsfaktor

Den negative modstandstest finder marginen mellem krystallen amplifier belastning brugt i din applikation og den maksimale belastning. Ved max belastning er amplifier vil kvæle, og svingningerne stopper. Dette punkt kaldes oscillatorgodtgørelsen (OA). Find oscillatorgodtgørelsen ved midlertidigt at tilføje en variabel seriemodstand mellem amplifier output (XTAL2/TOSC2) ledning og krystallen, som vist i figur 3-6. Forøg seriemodstanden, indtil krystallen holder op med at oscillere. Oscillatorgodkendelsen vil så være summen af ​​denne seriemodstand, RMAX, og ESR. Det anbefales at bruge et potentiometer med et område på mindst ESR < RPOT < 5 ESR.
Det kan være lidt vanskeligt at finde en korrekt RMAX-værdi, fordi der ikke findes noget nøjagtigt oscillatortillægspunkt. Inden oscillatoren stopper, kan du observere en gradvis frekvensreduktion, og der kan også være en start-stop-hysterese. Når oscillatoren stopper, skal du reducere RMAX-værdien med 10-50 kΩ, før svingningerne genoptages. Der skal udføres en strømcyklus hver gang, efter at den variable modstand er øget. RMAX vil så være modstandsværdien, hvor oscillatoren ikke starter efter en power-cykling. Bemærk, at opstartstiderne vil være ret lange ved oscillatortillægspunktet, så vær tålmodig.
Ligning 3-1. Oscillatorgodtgørelse
OA = RMAX + ESR

Figur 3-6. Måling af Oscillator Allowance/RMAX

Det anbefales at bruge et potentiometer af høj kvalitet med lav parasitisk kapacitans (f.eks. et SMD-potentiometer egnet til RF) for at give de mest nøjagtige resultater. Men hvis du kan opnå god oscillatorgodtgørelse/RMAX med et billigt potentiometer, er du sikker.
Når man skal finde den maksimale seriemodstand, kan man finde sikkerhedsfaktoren fra ligning 3-2. Forskellige MCU- og krystalleverandører arbejder med forskellige sikkerhedsfaktoranbefalinger. Sikkerhedsfaktoren tilføjer en margin for eventuelle negative effekter af de forskellige variabler såsom oscillator ampforstærkning, ændring på grund af strømforsyningen og temperaturvariationer, procesvariationer og belastningskapacitans. 32.768 kHz oscillator amplifier på AVR mikrocontrollere er temperatur- og effektkompenseret. Så ved at have disse variable mere eller mindre konstante, kan vi reducere kravene til sikkerhedsfaktoren sammenlignet med andre MCU/IC-producenter. Sikkerhedsfaktoranbefalingerne er anført i tabel 3-1.

Ligning 3-2. Sikkerhedsfaktor

Figur 3-7. Seriepotentiometer mellem XTAL2/TOSC2-stiften og krystal

Figur 3-8. Tillægstest i stikkontakt

Tabel 3-1. Sikkerhedsfaktoranbefalinger

Sikkerhedsfaktor	Henstilling
>5	Fremragende
4	Meget godt
3	God
<3	Ikke anbefalet

Måling af effektiv belastningskapacitans

Krystalfrekvensen er afhængig af den påførte kapacitive belastning, som vist i ligning 1-2. Anvendelse af den kapacitive belastning, der er angivet i krystaldatabladet, vil give en frekvens meget tæt på den nominelle frekvens på 32.768 kHz. Hvis andre kapacitive belastninger påføres, ændres frekvensen. Frekvensen vil stige, hvis den kapacitive belastning mindskes, og vil falde, hvis belastningen øges, som vist i figur 3-9.
Frekvenstrækevnen eller båndbredden, det vil sige hvor langt fra den nominelle frekvens resonansfrekvensen kan forceres ved at påføre belastning, afhænger af resonatorens Q-faktor. Båndbredden er givet ved den nominelle frekvens divideret med Q-faktoren, og for kvartskrystaller med høj Q er den anvendelige båndbredde begrænset. Hvis den målte frekvens afviger fra den nominelle frekvens, vil oscillatoren være mindre robust. Dette skyldes højere dæmpning i feedback-sløjfen β(jω), hvilket vil forårsage en højere belastning af amplifikator A for at opnå enhedsforstærkning (se figur 1-2).
Ligning 3-3. Båndbredde

En god måde at måle den effektive belastningskapacitans (summen af ​​belastningskapacitet og parasitkapacitet) er at måle oscillatorfrekvensen og sammenligne den med den nominelle frekvens på 32.768 kHz. Hvis den målte frekvens er tæt på 32.768 kHz, vil den effektive belastningskapacitans være tæt på specifikationen. Gør dette ved at bruge den firmware, der følger med denne applikationsnote og en standard 10X scope-probe på urudgangen på en I/O-pin, eller, hvis den er tilgængelig, mål krystallen direkte med en højimpedansprobe beregnet til krystalmålinger. Se afsnit 4, Test firmware, for flere detaljer.

Figur 3-9. Frekvens vs. belastningskapacitans

Ligning 3-4 giver den samlede belastningskapacitet uden eksterne kondensatorer. I de fleste tilfælde skal eksterne kondensatorer (CEL1 og CEL2) tilføjes for at matche den kapacitive belastning, der er angivet i krystallens datablad. Hvis der bruges eksterne kondensatorer, giver ligning 3-5 den samlede kapacitive belastning.

Ligning 3-4. Total kapacitiv belastning uden eksterne kondensatorer
Ligning 3-5. Total kapacitiv belastning med eksterne kondensatorer

Figur 3-10. Krystalkredsløb med interne, parasitære og eksterne kondensatorer

Test firmware

Testfirmware til at udsende clock-signalet til en I/O-port, der kan være indlæst med en standard 10X probe, er inkluderet i .zip file distribueres med denne ansøgningsnote. Mål ikke krystalelektroderne direkte, hvis du ikke har prober med meget høj impedans beregnet til sådanne målinger.
Kompiler kildekoden og programmer .hex file ind i enheden.
Anvend VCC inden for det driftsområde, der er angivet i databladet, tilslut krystallen mellem XTAL1/TOSC1 og XTAL2/TOSC2, og mål ursignalet på udgangsbenet.
Udgangsstiften er forskellig på de forskellige enheder. De korrekte stifter er angivet nedenfor.

• ATmega128: Ursignalet udsendes til PB4, og dets frekvens divideres med 2. Den forventede udgangsfrekvens er 16.384 kHz.
• ATmega328P: Ursignalet udsendes til PD6, og dets frekvens divideres med 2. Den forventede udgangsfrekvens er 16.384 kHz.
• ATtiny817: Ursignalet udsendes til PB5, og dets frekvens er ikke opdelt. Den forventede udgangsfrekvens er 32.768 kHz.
• ATtiny85: Ursignalet udsendes til PB1, og dets frekvens divideres med 2. Den forventede udgangsfrekvens er 16.384 kHz.
• ATxmega128A1: Ursignalet udsendes til PC7, og dets frekvens er ikke opdelt. Den forventede udgangsfrekvens er 32.768 kHz.
• ATxmega256A3B: Ursignalet udsendes til PC7, og dets frekvens er ikke opdelt. Den forventede udgangsfrekvens er 32.768 kHz.
• PIC18F25Q10: Ursignalet udsendes til RA6, og dets frekvens divideres med 4. Den forventede udgangsfrekvens er 8.192 kHz.

Vigtig:  PIC18F25Q10 blev brugt som repræsentant for en enhed i AVR Dx-serien ved test af krystaller. Den bruger OSC_LP_v10 oscillatormodulet, som er det samme som bruges af AVR Dx-serien.

Krystal anbefalinger

Tabel 5-2 viser et udvalg af krystaller, der er blevet testet og fundet egnede til forskellige AVR-mikrocontrollere.

Vigtig:  Da mange mikrocontrollere deler oscillatormoduler, er kun et udvalg af repræsentative mikrocontrollerprodukter blevet testet af krystalleverandører. Se den files distribueret med applikationsnoten for at se de originale krystaltestrapporter. Se afsnit 6. Oscillatormodul overview for en overview af hvilket mikrocontrollerprodukt, der bruger hvilket oscillatormodul.

Brug af krystal-MCU-kombinationer fra nedenstående tabel vil sikre god kompatibilitet og anbefales stærkt til brugere med ringe eller begrænset krystalekspertise. Selvom krystal-MCU-kombinationerne er testet af meget erfarne krystaloscillatoreksperter hos de forskellige krystalleverandører, anbefaler vi stadig at teste dit design som beskrevet i afsnit 3, Test af krystaloscillationsrobusthed, for at sikre, at der ikke er blevet introduceret problemer under layout, lodning osv.
Tabel 5-1 viser en liste over de forskellige oscillatormoduler. Afsnit 6, Oscillatormodul overview, har en liste over enheder, hvor disse moduler er inkluderet.

Tabel 5-1. Overview af oscillatorer i AVR®-enheder

#	Oscillator modul	Beskrivelse
1	X32K_2v7	2.7-5.5V oscillator brugt i megaAVR®-enheder(1)
2	X32K_1v8	1.8-5.5V oscillator brugt i megaAVR/tinyAVR®-enheder(1)
3	X32K_1v8_ULP	1.8-3.6V oscillator med ultralav effekt brugt i megaAVR/tinyAVR picoPower®-enheder
4	X32K_XMEGA (normal tilstand)	1.6-3.6V oscillator med ultralav effekt, der bruges i XMEGA®-enheder. Oscillator konfigureret til normal tilstand.
5	X32K_XMEGA (lavstrømstilstand)	1.6-3.6V oscillator med ultralav effekt, der bruges i XMEGA-enheder. Oscillator konfigureret til laveffekttilstand.
6	X32K_XRTC32	1.6-3.6V ultra-laveffekt RTC-oscillator brugt i XMEGA-enheder med batteribackup
7	X32K_1v8_5v5_ULP	1.8-5.5V ultra-laveffekt oscillator brugt i tinyAVR 0-, 1- og 2-serie og megaAVR 0-serie enheder
8	OSC_LP_v10 (normal tilstand)	1.8-5.5V ultra-lav effekt oscillator brugt i AVR Dx serie enheder. Oscillator konfigureret til normal tilstand.
9	OSC_LP_v10 (lavstrømstilstand)	1.8-5.5V ultra-lav effekt oscillator brugt i AVR Dx serie enheder. Oscillator konfigureret til laveffekttilstand.

Note

1. Bruges ikke sammen med megaAVR® 0-serien eller tinyAVR® 0-, 1- og 2-serien.

Tabel 5-2. Anbefalede 32.768 kHz krystaller

Sælger	Type	Monter	Oscillator moduler Testet og godkendt (se Tabel 5-1)	Frekvenstolerance [±ppm]	Indlæs Kapacitans [pF]	Tilsvarende seriemodstand (ESR) [kΩ]
Mikrokrystal	CC7V-T1A	SMD	1, 2, 3, 4, 5	20/100	7.0/9.0/12.5	50/70
Abracon	ABS06	SMD	2	20	12.5	90
Kardinal	CPFB	SMD	2, 3, 4, 5	20	12.5	50
Kardinal	CTF6	TH	2, 3, 4, 5	20	12.5	50
Kardinal	CTF8	TH	2, 3, 4, 5	20	12.5	50
Endrich Borger	CFS206	TH	1, 2, 3, 4	20	12.5	35
Endrich Borger	CM315	SMD	1, 2, 3, 4	20	12.5	70
Epson Tyocom	MC-306	SMD	1, 2, 3	20/50	12.5	50
Ræv	FXLF	SMD	2, 3, 4, 5	20	12.5	65
Ræv	FX135	SMD	2, 3, 4, 5	20	12.5	70
Ræv	FX122	SMD	2, 3, 4	20	12.5	90
Ræv	FSRLF	SMD	1, 2, 3, 4, 5	20	12.5	50
NDK	NX3215SA	SMD	1, 2, 3	20	12.5	80
NDK	NX1610SE	SMD	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9	20	6	50
NDK	NX2012SE	SMD	1, 2, 4, 5, 6, 8, 9	20	6	50
Seiko Instruments	SSP-T7-FL	SMD	2, 3, 5	20	4.4/6/12.5	65
Seiko Instruments	SSP-T7-F	SMD	1, 2, 4, 6, 7, 8, 9	20	7/12.5	65
Seiko Instruments	SC-32S	SMD	1, 2, 4, 6, 7, 8, 9	20	7	70
Seiko Instruments	SC-32L	SMD	4	20	7	40
Seiko Instruments	SC-20S	SMD	1, 2, 4, 6, 7, 8, 9	20	7	70
Seiko Instruments	SC-12S	SMD	1, 2, 6, 7, 8, 9	20	7	90

Note: 

1. Krystaller kan være tilgængelige med flere muligheder for belastningskapacitans og frekvenstolerance. Kontakt krystalleverandøren for mere information.

Oscillatormodul overståetview

Dette afsnit viser en liste over hvilke 32.768 kHz-oscillatorer, der er inkluderet i forskellige Microchip megaAVR-, tinyAVR-, Dx- og XMEGA®-enheder.

megaAVR®-enheder

Tabel 6-1. megaAVR®-enheder

Enhed	Oscillator modul
ATmega1280	X32K_1v8
ATmega1281	X32K_1v8
ATmega1284P	X32K_1v8_ULP
ATmega128A	X32K_2v7
ATmega128	X32K_2v7
ATmega1608	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega1609	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega162	X32K_1v8
ATmega164A	X32K_1v8_ULP
ATmega164PA	X32K_1v8_ULP
ATmega164P	X32K_1v8_ULP
ATmega165A	X32K_1v8_ULP
ATmega165PA	X32K_1v8_ULP
ATmega165P	X32K_1v8_ULP
ATmega168A	X32K_1v8_ULP
ATmega168PA	X32K_1v8_ULP
ATmega168PB	X32K_1v8_ULP
ATmega168P	X32K_1v8_ULP
ATmega168	X32K_1v8
ATmega169A	X32K_1v8_ULP
ATmega169PA	X32K_1v8_ULP
ATmega169P	X32K_1v8_ULP
ATmega169	X32K_1v8
ATmega16A	X32K_2v7
ATmega16	X32K_2v7
ATmega2560	X32K_1v8
ATmega2561	X32K_1v8
ATmega3208	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega3209	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega324A	X32K_1v8_ULP
ATmega324PA	X32K_1v8_ULP
ATmega324PB	X32K_1v8_ULP
ATmega324P	X32K_1v8_ULP
ATmega3250A	X32K_1v8_ULP
ATmega3250PA	X32K_1v8_ULP
ATmega3250P	X32K_1v8_ULP
ATmega325A	X32K_1v8_ULP
ATmega325PA	X32K_1v8_ULP
ATmega325P	X32K_1v8_ULP
ATmega328PB	X32K_1v8_ULP
ATmega328P	X32K_1v8_ULP
ATmega328	X32K_1v8
ATmega3290A	X32K_1v8_ULP
ATmega3290PA	X32K_1v8_ULP
ATmega3290P	X32K_1v8_ULP
ATmega329A	X32K_1v8_ULP
ATmega329PA	X32K_1v8_ULP
ATmega329P	X32K_1v8_ULP
ATmega329	X32K_1v8
ATmega32A	X32K_2v7
ATmega32	X32K_2v7
ATmega406	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega4808	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega4809	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega48A	X32K_1v8_ULP
ATmega48PA	X32K_1v8_ULP
ATmega48PB	X32K_1v8_ULP
ATmega48P	X32K_1v8_ULP
ATmega48	X32K_1v8
ATmega640	X32K_1v8
ATmega644A	X32K_1v8_ULP
ATmega644PA	X32K_1v8_ULP
ATmega644P	X32K_1v8_ULP
ATmega6450A	X32K_1v8_ULP
ATmega6450P	X32K_1v8_ULP
ATmega645A	X32K_1v8_ULP
ATmega645P	X32K_1v8_ULP
ATmega6490A	X32K_1v8_ULP
ATmega6490P	X32K_1v8_ULP
ATmega6490	X32K_1v8_ULP
ATmega649A	X32K_1v8_ULP
ATmega649P	X32K_1v8_ULP
ATmega649	X32K_1v8
ATmega64A	X32K_2v7
ATmega64	X32K_2v7
ATmega808	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega809	X32K_1v8_5v5_ULP
ATmega88A	X32K_1v8_ULP
ATmega88PA	X32K_1v8_ULP
ATmega88PB	X32K_1v8_ULP
ATmega88P	X32K_1v8_ULP
ATmega88	X32K_1v8
ATmega8A	X32K_2v7
ATmega8	X32K_2v7

tinyAVR®-enheder

Tabel 6-2. tinyAVR®-enheder

Enhed	Oscillator modul
ATtiny1604	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1606	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1607	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1614	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1616	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1617	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1624	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1626	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny1627	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny202	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny204	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny212	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny214	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny2313A	X32K_1v8
ATtiny24A	X32K_1v8
ATtiny24	X32K_1v8
ATtiny25	X32K_1v8
ATtiny261A	X32K_1v8
ATtiny261	X32K_1v8
ATtiny3216	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny3217	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny3224	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny3226	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny3227	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny402	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny404	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny406	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny412	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny414	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny416	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny417	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny424	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny426	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny427	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny4313	X32K_1v8
ATtiny44A	X32K_1v8
ATtiny44	X32K_1v8
ATtiny45	X32K_1v8
ATtiny461A	X32K_1v8
ATtiny461	X32K_1v8
ATtiny804	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny806	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny807	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny814	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny816	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny817	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny824	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny826	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny827	X32K_1v8_5v5_ULP
ATtiny84A	X32K_1v8
ATtiny84	X32K_1v8
ATtiny85	X32K_1v8
ATtiny861A	X32K_1v8
ATtiny861	X32K_1v8

AVR® Dx-enheder

Tabel 6-3. AVR® Dx-enheder

Enhed	Oscillator modul
AVR128DA28	OSC_LP_v10
AVR128DA32	OSC_LP_v10
AVR128DA48	OSC_LP_v10
AVR128DA64	OSC_LP_v10
AVR32DA28	OSC_LP_v10
AVR32DA32	OSC_LP_v10
AVR32DA48	OSC_LP_v10
AVR64DA28	OSC_LP_v10
AVR64DA32	OSC_LP_v10
AVR64DA48	OSC_LP_v10
AVR64DA64	OSC_LP_v10
AVR128DB28	OSC_LP_v10
AVR128DB32	OSC_LP_v10
AVR128DB48	OSC_LP_v10
AVR128DB64	OSC_LP_v10
AVR32DB28	OSC_LP_v10
AVR32DB32	OSC_LP_v10
AVR32DB48	OSC_LP_v10
AVR64DB28	OSC_LP_v10
AVR64DB32	OSC_LP_v10
AVR64DB48	OSC_LP_v10
AVR64DB64	OSC_LP_v10
AVR128DD28	OSC_LP_v10
AVR128DD32	OSC_LP_v10
AVR128DD48	OSC_LP_v10
AVR128DD64	OSC_LP_v10
AVR32DD28	OSC_LP_v10
AVR32DD32	OSC_LP_v10
AVR32DD48	OSC_LP_v10
AVR64DD28	OSC_LP_v10
AVR64DD32	OSC_LP_v10
AVR64DD48	OSC_LP_v10
AVR64DD64	OSC_LP_v10

AVR® XMEGA®-enheder

Tabel 6-4. AVR® XMEGA®-enheder

Enhed	Oscillator modul
ATxmega128A1	X32K_XMEGA
ATxmega128A3	X32K_XMEGA
ATxmega128A4	X32K_XMEGA
ATxmega128B1	X32K_XMEGA
ATxmega128B3	X32K_XMEGA
ATxmega128D3	X32K_XMEGA
ATxmega128D4	X32K_XMEGA
ATxmega16A4	X32K_XMEGA
ATxmega16D4	X32K_XMEGA
ATxmega192A1	X32K_XMEGA
ATxmega192A3	X32K_XMEGA
ATxmega192D3	X32K_XMEGA
ATxmega256A3B	X32K_XRTC32
ATxmega256A1	X32K_XMEGA
ATxmega256D3	X32K_XMEGA
ATxmega32A4	X32K_XMEGA
ATxmega32D4	X32K_XMEGA
ATxmega64A1	X32K_XMEGA
ATxmega64A3	X32K_XMEGA
ATxmega64A4	X32K_XMEGA
ATxmega64B1	X32K_XMEGA
ATxmega64B3	X32K_XMEGA
ATxmega64D3	X32K_XMEGA
ATxmega64D4	X32K_XMEGA

Revisionshistorie

Dok. Rev.	Dato	Kommentarer
D	05/2022	Tilføjet afsnittet 1.8. Drive Styrke. Opdaterede afsnittet 5. Krystalanbefalinger med nye krystaller.
C	09/2021	Generelt vedrview af ansøgningsnoteteksten. Rettet Ligning 1-5. Opdateret afsnit 5. Krystalanbefalinger med nye AVR-enheder og krystaller.
B	09/2018	Rettet Tabel 5-1. Korrigerede krydshenvisninger.
A	02/2018	Konverteret til Microchip-format og erstattet Atmel-dokumentnummer 8333. Tilføjet understøttelse af tinyAVR 0- og 1-serien.
8333E	03/2015	Ændret XMEGA clock output fra PD7 til PC7. XMEGA B tilføjet.
8333D	072011	Anbefalingsliste opdateret.
8333C	02/2011	Anbefalingsliste opdateret.
8333B	11/2010	Flere opdateringer og rettelser.
8333A	08/2010	Revision af første dokument.

Mikrochip information

Mikrochippen Webwebsted

Microchip yder online support via vores website kl www.microchip.com/. Dette website bruges til at lave files og information let tilgængelig for kunderne. Noget af det tilgængelige indhold inkluderer:

• Produktsupport – Datablade og errata, applikationsnoter og sample-programmer, designressourcer, brugervejledninger og hardwaresupportdokumenter, seneste softwareudgivelser og arkiveret software
• Generel teknisk support – ofte stillede spørgsmål (ofte stillede spørgsmål), anmodninger om teknisk support, online diskussionsgrupper, medlemsliste for Microchip-designpartnerprogram
• Business of Microchip – Produktvælger- og bestillingsvejledninger, seneste Microchip-pressemeddelelser, oversigt over seminarer og arrangementer, lister over Microchip salgskontorer, distributører og fabriksrepræsentanter

Produktændringsmeddelelsesservice
Microchips underretningstjeneste for produktændringer hjælper med at holde kunderne opdateret på Microchip-produkter. Abonnenter vil modtage e-mail-meddelelser, når der er ændringer, opdateringer, revisioner eller fejl relateret til en specificeret produktfamilie eller udviklingsværktøj af interesse.
For at registrere, gå til www.microchip.com/pcn og følg registreringsvejledningen.

Kundesupport
Brugere af Microchip-produkter kan modtage assistance gennem flere kanaler:

• Distributør eller repræsentant
• Lokalt salgskontor
• Embedded Solutions Engineer (ESE)
• Teknisk support

Kunder bør kontakte deres distributør, repræsentant eller ESE for at få support. Lokale salgskontorer er også tilgængelige for at hjælpe kunder. En liste over salgskontorer og lokationer er inkluderet i dette dokument.
Teknisk support er tilgængelig via webwebsted på: www.microchip.com/support

Mikrochip-enheder kodebeskyttelsesfunktion
Bemærk følgende detaljer om kodebeskyttelsesfunktionen på Microchip-produkter:

• Microchip-produkter opfylder specifikationerne i deres særlige Microchip-datablad.
• Microchip mener, at dens familie af produkter er sikre, når de bruges på den tilsigtede måde, inden for driftsspecifikationerne og under normale forhold.
• Microchip værdsætter og beskytter aggressivt sine intellektuelle ejendomsrettigheder. Forsøg på at bryde kodebeskyttelsesfunktionerne i Microchip-produktet er strengt forbudt og kan være i strid med Digital Millennium Copyright Act.
• Hverken Microchip eller nogen anden halvlederproducent kan garantere sikkerheden af ​​deres kode. Kodebeskyttelse betyder ikke, at vi garanterer, at produktet er "ubrydeligt". Kodebeskyttelse er i konstant udvikling. Microchip er forpligtet til løbende at forbedre kodebeskyttelsesfunktionerne i vores produkter.

Juridisk meddelelse
Denne publikation og oplysningerne heri må kun bruges med Microchip-produkter, herunder til at designe, teste og integrere Microchip-produkter med din applikation. Brug af disse oplysninger på anden måde overtræder disse vilkår. Oplysninger om enhedsapplikationer gives kun for din bekvemmelighed og kan blive afløst af opdateringer. Det er dit ansvar at sikre, at din ansøgning lever op til dine specifikationer. Kontakt dit lokale Microchip-salgskontor for yderligere support, eller få yderligere support på www.microchip.com/en-us/support/design-help/client-support-services.
DISSE OPLYSNINGER LEVERES AF MICROCHIP "SOM DE ER". MICROCHIP GIVER INGEN REPRÆSENTATIONER ELLER GARANTIER AF NOGEN ART, HVERKEN UDTRYKKELIGE ELLER UNDERFORSTÅEDE, SKRIFTLIGE ELLER mundtlige, LOVBESTEMMET
ELLER PÅ ANDEN MÅDE RELATERET TIL OPLYSNINGERNE, HERUNDER MEN IKKE BEGRÆNSET TIL ENHVER UNDERFORSTÅET GARANTI FOR IKKE-KRÆNKELSE, SALGBARHED OG EGNETHED TIL ET BESTEMT FORMÅL, ELLER GARANTIER RELATERET TIL DETS TILSTAND, ELLER KVALITET.
MICROCHIP VIL UNDER INGEN OMSTÆNDIGHEDER VÆRE ANSVARLIG FOR NOGEN INDIREKTE, SÆRLIGE, STRAFFENDE, TILFÆLDELIGE ELLER FØLGETAB, SKADER, OMKOSTNINGER ELLER UDGIFTER AF NOGEN ART, SOM ER RELATET TIL OPLYSNINGERNE ELLER DERES ANVENDELSE, UNDER ANDET ELLER ARGANG. MULIGHEDEN ELLER SKADERNE ER FORUDSIGELIGE. I DET FULDSTÆNDE OMFANG, DET ER TILLADT AF LOVEN, VIL MICROCHIPS SAMLEDE ANSVAR PÅ ALLE KRAV PÅ NOGEN MÅDE RELATET TIL INFORMATIONEN ELLER DERES ANVENDELSE IKKE OVERstige BELØBET, HVIS NOGET, SOM DU HAR BETALT DIREKTE TIL MICRATIONOCHIP.
Brug af Microchip-enheder i livsstøtte- og/eller sikkerhedsapplikationer er helt på købers risiko, og køberen indvilliger i at forsvare, skadesløsholde og holde Microchip skadesløs fra enhver skade, krav, sager eller udgifter som følge af sådan brug. Ingen licenser videregives, implicit eller på anden måde, under nogen af ​​Microchips intellektuelle ejendomsrettigheder, medmindre andet er angivet.

Varemærker

Mikrochipnavnet og logoet, Microchiplogoet, Adaptec, AnyRate, AVR, AVR-logoet, AVR Freaks, Bes Time, Bit Cloud, Crypto Memory, Crypto RF, dsPIC, flexPWR, HELDO, IGLOO, JukeBlox, KeeLoq, Kleer, LANCheck, LinkMD, maXStylus, maXTouch, Media LB, megaAVR, Microsemi, Microsemi-logo, MOST, MOST-logo, MPLAB, OptoLyzer, PIC, picoPower, PICSTART, PIC32-logo, PolarFire, Prochip Designer, QTouch, SAM-BA, SenGenuity, SpyNIC, SST , SST-logo, SuperFlash, Symmetricom, SyncServer, Tachyon, TimeSource, tinyAVR, UNI/O, Vectron og XMEGA er registrerede varemærker tilhørende Microchip Technology Incorporated i USA og andre lande.
AgileSwitch, APT, ClockWorks, The Embedded Control Solutions Company, EtherSynch, Flashtec, Hyper Speed ​​Control, HyperLight Load, Intelli MOS, Libero, motorBench, m Touch, Powermite 3, Precision Edge, ProASIC, ProASIC Plus, ProASIC Plus logo, Quiet- Wire, Smart Fusion, Sync World, Temux, Time Cesium, TimeHub, TimePictra, Time Provider, TrueTime, WinPath og ZL er registrerede varemærker tilhørende Microchip Technology Incorporated i USA
Adjacent Key Suppression, AKS, Analog-for-the-Digital Age, Any Capacitor, AnyIn, AnyOut, Augmented Switching, Blue Sky, Body Com, Code Guard, CryptoAuthentication, Crypto Automotive, CryptoCompanion, CryptoController, dsPICDEM, dsPICDEM.net, Dynamic Average Matching, DAM, ECAN, Espresso T1S, EtherGREEN, GridTime, Ideal Bridge, In-Circuit Serial Programming, ICSP, INICnet, Intelligent Paralleling, Inter-Chip Connectivity, JitterBlocker, Knob-on-Display, maxCrypto, max.View, memBrain, Mindi, MiWi, MPASM, MPF, MPLAB Certified logo, MPLIB, MPLINK, MultiTRAK, NetDetach, NVM Express, NVMe, Omniscient Code Generation, PICDEM, PICDEM.net, PICkit, PICtail, PowerSmart, PureSilicon, QMatrix, REAL . , Ripple Blocker, RTAX, RTG4, SAM-ICE, Serial Quad I/O, simpleMAP, SimpliPHY, Smar tBuffer, SmartHLS, SMART-IS, storClad, SQI, SuperSwitcher, SuperSwitcher II, Switchtec, SynchroPHY, Total Endurance, TSHARC, USBCheck , VariSense, VectorBlox, VeriPHY, ViewSpan, WiperLock, XpressConnect og ZENA er varemærker tilhørende Microchip Technology Incorporated i USA og andre lande.

SQTP er et servicemærke tilhørende Microchip Technology Incorporated i USA
Adaptec-logoet, Frequency on Demand, Silicon Storage Technology, Symmcom og Trusted Time er registrerede varemærker tilhørende Microchip Technology Inc. i andre lande.
GestIC er et registreret varemærke tilhørende Microchip Technology Germany II GmbH & Co. KG, et datterselskab af Microchip Technology Inc., i andre lande.
Alle andre varemærker nævnt heri tilhører deres respektive virksomheder.
© 2022, Microchip Technology Incorporated og dets datterselskaber. Alle rettigheder forbeholdes.

• ISBN: 978-1-6683-0405-1

Kvalitetsstyringssystem
For information om Microchips kvalitetsstyringssystemer, besøg venligst www.microchip.com/quality.

Verdensomspændende salg og service

Virksomhedskontor
2355 West Chandler Blvd. Chandler, AZ 85224-6199 Tlf.: 480-792-7200
Fax: 480-792-7277

Teknisk support:
www.microchip.com/support

Web Adresse:
www.microchip.com

Atlanta
Duluth, GA
Tlf.: 678-957-9614
Fax: 678-957-1455 Austin, TX
Tlf.: 512-257-3370 Boston

Westborough, MA
Tlf.: 774-760-0087
Fax: 774-760-0088 Chicago

Itasca, IL
Tlf.: 630-285-0071
Fax: 630-285-0075 Dallas

Addison, TX
Tlf.: 972-818-7423
Fax: 972-818-2924 Detroit

Novi, MI
Tlf.: 248-848-4000 Houston, TX
Tlf.: 281-894-5983 Indianapolis

Noblesville, IN
Tlf.: 317-773-8323
Fax: 317-773-5453
Tlf.: 317-536-2380

Los Angeles
Mission Viejo, CA
Tlf.: 949-462-9523
Fax: 949-462-9608
Tlf.: 951-273-7800 Raleigh, NC
Tlf.: 919-844-7510

New York, NY
Tlf.: 631-435-6000

San Jose, CA
Tlf.: 408-735-9110
Tlf.: 408-436-4270

Canada – Toronto
Tlf.: 905-695-1980
Fax: 905-695-2078

Australien – Sydney
Tlf.: 61-2-9868-6733

Kina – Beijing
Tlf.: 86-10-8569-7000

Kina – Chengdu
Tlf.: 86-28-8665-5511

Kina – Chongqing
Tlf.: 86-23-8980-9588

Kina – Dongguan
Tlf.: 86-769-8702-9880

Kina – Guangzhou
Tlf.: 86-20-8755-8029

Kina – Hangzhou
Tlf.: 86-571-8792-8115

Kina – Hong Kong
SAR Tlf.: 852-2943-5100

Kina – Nanjing
Tlf.: 86-25-8473-2460

Kina – Qingdao
Tlf.: 86-532-8502-7355

Kina – Shanghai
Tlf.: 86-21-3326-8000

Kina – Shenyang
Tlf.: 86-24-2334-2829

Kina – Shenzhen
Tlf.: 86-755-8864-2200

Kina – Suzhou
Tlf.: 86-186-6233-1526

Kina – Wuhan
Tlf.: 86-27-5980-5300

Kina – Xian
Tlf.: 86-29-8833-7252

Kina – Xiamen
Tlf.: 86-592-2388138

Kina – Zhuhai
Tlf.: 86-756-3210040

Indien – Bangalore
Tlf.: 91-80-3090-4444

Indien – New Delhi
Tlf.: 91-11-4160-8631

Indien - Pune
Tlf.: 91-20-4121-0141

Japan – Osaka
Tlf.: 81-6-6152-7160

Japan – Tokyo
Tlf.: 81-3-6880- 3770

Korea – Daegu
Tlf.: 82-53-744-4301

Korea – Seoul
Tlf.: 82-2-554-7200

Malaysia - Kuala Lumpur
Tlf.: 60-3-7651-7906

Malaysia – Penang
Tlf.: 60-4-227-8870

Filippinerne – Manila
Tlf.: 63-2-634-9065

Singapore
Tlf.: 65-6334-8870

Taiwan – Hsin Chu
Tlf.: 886-3-577-8366

Taiwan – Kaohsiung
Tlf.: 886-7-213-7830

Taiwan - Taipei
Tlf.: 886-2-2508-8600

Thailand – Bangkok
Tlf.: 66-2-694-1351

Vietnam – Ho Chi Minh
Tlf.: 84-28-5448-2100

Østrig – Wels
Tlf.: 43-7242-2244-39
Fax: 43-7242-2244-393

Danmark – København
Tlf.: 45-4485-5910
Fax: 45-4485-2829

Finland – Espoo
Tlf.: 358-9-4520-820

Frankrig – Paris
Tel: 33-1-69-53-63-20
Fax: 33-1-69-30-90-79
Tyskland – Garching
Tlf.: 49-8931-9700

Tyskland – Haan
Tlf.: 49-2129-3766400

Tyskland – Heilbronn
Tlf.: 49-7131-72400

Tyskland – Karlsruhe
Tlf.: 49-721-625370

Tyskland – München
Tel: 49-89-627-144-0
Fax: 49-89-627-144-44

Tyskland – Rosenheim
Tlf.: 49-8031-354-560

Israel – Ra'anana
Tlf.: 972-9-744-7705

Italien – Milano
Tlf.: 39-0331-742611
Fax: 39-0331-466781

Italien – Padova
Tlf.: 39-049-7625286

Holland – Drunen
Tlf.: 31-416-690399
Fax: 31-416-690340

Norge – Trondheim
Tlf.: 47-72884388

Polen – Warszawa
Tlf.: 48-22-3325737

Rumænien – Bukarest
Tel: 40-21-407-87-50

Spanien - Madrid
Tel: 34-91-708-08-90
Fax: 34-91-708-08-91

Sverige – Göteborg
Tel: 46-31-704-60-40

Sverige – Stockholm
Tlf.: 46-8-5090-4654

Storbritannien – Wokingham
Tlf.: 44-118-921-5800
Fax: 44-118-921-5820

Dokumenter/ressourcer

MICROCHIP AN2648 Valg og test af 32.768 kHz krystaloscillatorer til AVR-mikrocontrollere [pdfBrugervejledning AN2648 Valg og test af 32.768 kHz krystaloscillatorer til AVR mikrocontrollere, AN2648, udvælgelse og test af 32.768 kHz krystaloscillatorer til AVR mikrocontrollere, krystaloscillatorer til AVR mikrocontrollere

Referencer

• Brugermanual