TOSHIBA DEBUG-A 32 位元 RISC 微控制器指令

就通道而言，「x」表示 0、1 和 2，...
Examp樂： [T32A0RUNA]、[T32A1RUNA]、[T32A2RUNA] → [T32AxRUNA]
暫存器的位元範圍寫為[m:n]。
Examp樂： Bit[3:0]表示bit 3到0的範圍。
暫存器的配置值可以用十六進制數或二進制數表示。
Examp樂： [ABCD] = 0x01（十六進位），[XYZn] = 1（二進位）
字和位元組表示後面的位元長度。
- 位元組: 8位
- 半字： 16位
- 單字： 32位
- 雙字: 64 位
暫存器中各位的屬性表示如下：
- R: 只讀
- W: 只寫
- 讀/寫： 讀和寫都是可能的。
除非另有說明，暫存器存取僅支援字存取。
定義為「保留」的暫存器不得被重寫。此外，不要使用讀取的值。
從具有預設值“-”的位元讀取的值是未知的。
當寫入同時包含可寫入位元和唯讀位元的暫存器時，唯讀位元應寫入其預設值，預設值為“-”時，請遵循各暫存器的定義。
只寫暫存器的保留位元應寫入其預設值。預設為“-”時，請依照各寄存器的定義。

不要對寫入和讀出不同的定義的暫存器進行讀取-修改-寫入處理。

術語和縮寫

本文檔中使用的一些縮寫如下：

SWJ-DP 串行線 JTAG 調試端口

埃TM 嵌入式追蹤宏單元TM
TPIU 跟踪端口接口單元
JTAG 聯合測試行動組

SW 序列線
SWV 序列線 Viewer

概要

串行線 JTAG 內建用於與偵錯工具連接的調試連接埠（SWJ-DP）單元和用於指令追蹤輸出的嵌入式追蹤宏單元（ETM）單元。追蹤資料透過片上追蹤連接埠介面單元（TPIU）輸出到專用引腳（TRACEDATA[3:0]、SWV）以進行調試。

功能分類	功能	手術
SWJ-DP	JTAG	可以連接JTAG 支援調試工具。
SWJ-DP	SW	可以連接串行線調試工具。
埃TM	痕跡	可以連接ETM Trace支援調試工具。

有關SWJ-DP、ETM和TPIU的詳細信息，請參閱《Arm® Cortex-M3®處理器技術參考手冊》/《Arm Cortex-M4處理器技術參考手冊》。

配置

圖 2.1 顯示了調試介面的框圖。

不。	象徵	訊號名稱	輸入/輸出	相關參考手冊
1	TRCLKIN	追蹤功能時鐘	輸入	時鐘控制和操作模式
2	經顱磁刺激系統	JTAG 測試模式選擇	輸入	輸入/輸出端口，產品訊息
3	威迪歐	串行線資料輸入/輸出	輸入/輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
4	TCK	JTAG 串行時脈輸入	輸入	輸入/輸出端口，產品訊息
5	時脈訊號	串行線時鐘	輸入	輸入/輸出端口，產品訊息
6	TDO	JTAG 測試數據輸出	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
7	SWV	序列線 View輸出	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
8	TDI	JTAG 測試數據輸入	輸入	輸入/輸出端口，產品訊息
9	TRST_N	JTAG 測試RESET_N	輸入	輸入/輸出端口，產品訊息
10	跟踪數據0	追蹤數據 0	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
11	跟踪數據1	追蹤數據 1	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
12	跟踪數據2	追蹤數據 2	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
13	跟踪數據3	追蹤數據 3	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息
14	跟踪時鐘	追蹤時鐘	輸出	輸入/輸出端口，產品訊息

SWJ-DP
- SWJ-DP 支援串列線調試埠（SWCLK、SWDIO）、JTAG 調試埠（TDI、TDO、TMS、TCK、TRST_N）和序列線的追蹤輸出 View呃（SWV）。
- 當您使用 SWV 時，請將時脈供給和停止暫存器（[CGSPCLKEN]）中適用的時脈啟用位元設為 1（時脈供給））。詳細資訊請參閱參考手冊的「時脈控制和操作模式」和「輸入/輸出連接埠」。
- JTAG 調試端口或 TRST_N 引腳不存在，具體取決於產品。詳細資訊請參閱參考手冊的「產品資訊」。
埃TM
- ETM 支援 4 個引腳 (TRACEDATA) 和 1 個時脈訊號引腳 (TRACECLK) 的資料訊號。
- 當您使用 ETM 時，請將時鐘供給和停止暫存器（[CGSPCLKEN]）中適用的時脈啟用位元設為 1（時脈供給））。詳細資訊請參閱參考手冊的「時脈控制和操作模式」和「輸入/輸出連接埠」。
- 根據產品的不同，不支援 ETM。詳細資訊請參閱參考手冊的「產品資訊」。

功能與操作

時鐘供應
當您使用追蹤或 SWV 時，請將 ADC 追蹤時脈供應停止暫存器（[CGSPCLKEN]）中適用的時脈啟用設定為 1（時脈供應））。詳細資訊請參閱參考手冊的「時鐘控制和操作模式」。

與調試工具連接

關於與調試工具的連接，請參考製造商的建議。調試介面引腳包含一個上拉電阻和一個下拉電阻。當調試介面引腳連接外部上拉或下拉時，請注意輸入電平。
當安全功能啟用時，CPU 無法連線到偵錯工具。

暫停模式下的外圍功能

保持模式是指調試工具上CPU停止（中斷）的狀態
當CPU進入暫停模式時，看門狗定時器（WDT）自動停止。其他外圍功能繼續運作。

用法範例ample

調試接口引腳也可以用作通用端口。

釋放重設後，調試介面引腳的特定引腳被初始化為調試介面引腳。如果需要，其他調試介面引腳應變更為調試介面引腳。

調試接口		調試介面引腳
	JTAG	TRST_N	TDI	TDO	TCK	經顱磁刺激系統	追蹤數據 [3:0]	跟踪時鐘
	SW	–	–	SWV	時脈訊號	威迪歐	追蹤數據 [3:0]	跟踪時鐘
釋放後調試引腳狀態重置		有效的	有效的	有效的	有效的	有效的	無效的	無效的
JTAG （使用 TRST_N）		✔	✔	✔	✔	✔	不適用	不適用
JTAG （無 TRST_N）		不適用	✔	✔	✔	✔	不適用	不適用
JTAG+追蹤		✔	✔	✔	✔	✔	✔	✔
SW		不適用	不適用	不適用	✔	✔	不適用	不適用
軟體+追蹤		不適用	不適用	不適用	✔	✔	✔	✔
短波+短波V		不適用	不適用	✔	✔	✔	不適用	不適用
調試功能停用		不適用	不適用	不適用	不適用	不適用	不適用	不適用

預防

使用調試介面引腳作為通用連接埠的要點

重設釋放後，如果使用者程式將偵錯介面引腳用作通用I/O 口，則無法連接偵錯工具。
如果調試介面引腳用於其他功能，請注意設定。
如果調試工具無法連接，它可以恢復調試連接，以使用單 BOOT 模式從外部擦除閃存。詳情請參閱「Flash Memory」參考手冊。

修訂歷史

修訂	日期	描述
1.0	2017-09-04	首次發布
1.1	2018-06-19	- 內容將目錄修改為目錄 -1 概要修改ARM為Arm。 -2。配置 SWJ-DP 中新增了參考“參考手冊” SWJ-ETM 中新增了參考“參考手冊”
1.2	2018-10-22	– 慣例商標修改說明 – 4. 用法範例ample 添加了前amp表 4.1 中 SW+TRACE 的文件 – 取代了產品使用限制
1.3	2019-07-26	– 修改圖2.1 – 2 新增了使用 SWV 功能的時鐘設定。 – 3.1 新增了使用 SWV 功能的時鐘設定。由“ETM”修改為“Trace”。 – 3.3 新增了保持模式的描述。
1.4	2024-10-31	– 外觀更新

產品使用限制

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東芝電子裝置及儲存裝置株式會社： https://toshiba.semicon-storage.com/

文件/資源

東芝 DEBUG-A 32 位元 RISC 微控制器 [pdf] 指示
DEBUG-A 32 位元 RISC 微控制器、DEBUG-A、32 位元 RISC 微控制器、RISC 微控制器、微控制器

參考

使用者手冊

東芝 DEBUG-A 32 位元 RISC 微控制器

產品資訊

產品使用說明

特徵

常見問題（常見問題）

前言