ตราสารแห่งชาติ
คู่มือการใช้งาน
PXI-6733 โมดูลเอาท์พุทแบบอะนาล็อก
บริการครบวงจร
เรานำเสนอบริการซ่อมแซมและสอบเทียบที่มีการแข่งขันสูง รวมไปถึงเอกสารที่เข้าถึงได้ง่ายและทรัพยากรที่ดาวน์โหลดได้ฟรี
ขายส่วนเกินของคุณ
เราซื้อชิ้นส่วนใหม่ ใช้แล้ว ปลดประจำการ และชิ้นส่วนส่วนเกินจาก NI ทุกรุ่น เราหาทางออกที่ดีที่สุดเพื่อให้เหมาะกับความต้องการส่วนบุคคลของคุณ
ขายเป็นเงินสด รับเครดิต รับข้อเสนอแลกเปลี่ยน
ฮาร์ดแวร์ NI ที่เลิกผลิตแล้วมีอยู่ในสต็อกและพร้อมส่ง
เรามีฮาร์ดแวร์ NI ใหม่ ใหม่เกิน ซ่อมแซม และปรับสภาพใหม่
ขอใบเสนอราคา คลิกที่นี่ PXI-6733
ขั้นตอนการสอบเทียบ NI 671X/673X
เอกสารนี้ประกอบด้วยคำแนะนำสำหรับการปรับเทียบอุปกรณ์ PCI/PXI/Compact PCI Analog Output (AO) ของ NI 671X (NI 6711/6713/6715) และ NI 673X (NI 6731/6733) ด้วย NI-DAQ แบบดั้งเดิม ใช้ขั้นตอนการปรับเทียบนี้กับไฟล์ ni671xCal.dll fileซึ่งมีฟังก์ชันเฉพาะที่จำเป็นสำหรับการสอบเทียบอุปกรณ์ NI 671X/673X
ข้อกำหนดการวัดของแอปพลิเคชันของคุณจะกำหนดว่า
NI 671X/673X มักต้องได้รับการสอบเทียบเพื่อรักษาความแม่นยำ NI ขอแนะนำให้คุณทำการสอบเทียบแบบครบถ้วนอย่างน้อยปีละครั้ง คุณสามารถลดระยะเวลาดังกล่าวลงเหลือ 90 วันหรือ XNUMX เดือนได้ ขึ้นอยู่กับความต้องการของแอปพลิเคชันของคุณ
หมายเหตุ อ้างถึง ni.com/support/calibrat/mancal.htm สำหรับสำเนาของ ni671xCal.dll file.
ตัวเลือกการสอบเทียบ: ภายในกับภายนอก
NI 671X/673X มีตัวเลือกการสอบเทียบสองตัวเลือก ได้แก่ การสอบเทียบภายในหรือการสอบเทียบด้วยตนเอง และการสอบเทียบภายนอก
การสอบเทียบภายใน
การสอบเทียบภายในเป็นวิธีการสอบเทียบที่ง่ายกว่ามากซึ่งไม่ต้องพึ่งพามาตรฐานภายนอก ในวิธีนี้ ค่าคงที่ของการสอบเทียบอุปกรณ์จะถูกปรับตามปริมาตรที่มีความแม่นยำสูงtage แหล่งที่มาบน NI 671X/673X การปรับเทียบประเภทนี้จะใช้หลังจากอุปกรณ์ได้รับการปรับเทียบตามมาตรฐานภายนอกแล้ว อย่างไรก็ตาม ตัวแปรภายนอกเช่นอุณหภูมิยังคงส่งผลต่อการวัด ค่าคงที่ของการสอบเทียบใหม่ถูกกำหนดขึ้นโดยคำนึงถึงค่าคงที่ของการสอบเทียบที่สร้างขึ้นระหว่างการสอบเทียบภายนอก เพื่อให้แน่ใจว่าการวัดนั้นสามารถตรวจสอบย้อนกลับไปยังมาตรฐานภายนอกได้ โดยพื้นฐานแล้ว การปรับเทียบภายในจะคล้ายกับฟังก์ชันศูนย์อัตโนมัติที่พบในมัลติมิเตอร์แบบดิจิทัล (DMM)
การสอบเทียบภายนอก
การสอบเทียบภายนอกต้องใช้เครื่องสอบเทียบและ DMM ที่มีความแม่นยำสูง
ระหว่างการสอบเทียบภายนอก DMM จะจัดหาและอ่านปริมาตรtages จากอุปกรณ์ มีการปรับเปลี่ยนค่าคงที่การปรับเทียบอุปกรณ์เพื่อให้แน่ใจว่าปริมาณที่รายงานtages อยู่ในข้อกำหนดของอุปกรณ์ ค่าคงที่ของการสอบเทียบใหม่จะถูกเก็บไว้ใน EEPROM ของอุปกรณ์ หลังจากปรับค่าคงที่ของการสอบเทียบออนบอร์ดแล้ว ปริมาตรที่มีความแม่นยำสูงtage แหล่งที่มาบนอุปกรณ์ได้รับการปรับ การสอบเทียบภายนอกให้ชุดค่าคงที่การสอบเทียบที่คุณสามารถใช้เพื่อชดเชยข้อผิดพลาดในการวัดที่ทำโดย NI 671X/673X
ข้อกำหนดด้านอุปกรณ์และการทดสอบอื่นๆ
ส่วนนี้อธิบายถึงอุปกรณ์ เงื่อนไขการทดสอบ เอกสารประกอบ และซอฟต์แวร์ที่คุณต้องใช้ในการสอบเทียบ NI 671X/673X
อุปกรณ์ทดสอบ
ในการปรับเทียบอุปกรณ์ NI 671X/673X คุณจะต้องมีเครื่องปรับเทียบและมัลติมิเตอร์ดิจิทัล (DMM) NI แนะนำให้ใช้อุปกรณ์ทดสอบต่อไปนี้:
- เครื่องสอบเทียบ—Fluke 5700A
- DMM—อากิเลนท์ (HP) 3458A
หากคุณไม่มี Agilent 3458A DMM ให้ใช้ข้อมูลจำเพาะด้านความแม่นยำเพื่อเลือกมาตรฐานการสอบเทียบทดแทน ในการสอบเทียบอุปกรณ์ NI 671X/673X คุณต้องมี DMM ความแม่นยำสูงที่มีความแม่นยำอย่างน้อย 40 ppm (0.004%) เครื่องสอบเทียบต้องมีความแม่นยำอย่างน้อย 50 ppm (0.005%) สำหรับอุปกรณ์ 12 บิต และ 10 ppm (0.001%) แม่นยำสำหรับอุปกรณ์ 16 บิต
หากคุณไม่มีฮาร์ดแวร์การเชื่อมต่อแบบกำหนดเอง คุณอาจต้องใช้บล็อกตัวเชื่อมต่อ เช่น NI CB-68 และสายเคเบิล เช่น SH68-68-EP สำหรับ NI 6715 ให้ใช้สายเคเบิล SHC68-68-EP ส่วนประกอบเหล่านี้ช่วยให้คุณเข้าถึงพินแต่ละพินบนคอนเน็กเตอร์ I/O 68 พินได้อย่างง่ายดาย
เงื่อนไขการทดสอบ
ปฏิบัติตามคำแนะนำเหล่านี้เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการเชื่อมต่อและเงื่อนไขการทดสอบระหว่างการสอบเทียบ:
- เชื่อมต่อกับ NI 671X/673X แบบสั้น สายยาวและสายไฟทำหน้าที่เป็นเสาอากาศ ดักจับสัญญาณรบกวนพิเศษ ซึ่งอาจส่งผลต่อการวัด
- ใช้ลวดทองแดงหุ้มฉนวนสำหรับการเชื่อมต่อสายเคเบิลทั้งหมดเข้ากับอุปกรณ์
- ใช้สายคู่บิดเกลียวเพื่อลดเสียงรบกวนและการชดเชยความร้อน
- รักษาอุณหภูมิระหว่าง 18 ถึง 28 °C หากต้องการใช้งานโมดูลที่อุณหภูมิเฉพาะนอกช่วงนี้ ให้ปรับเทียบอุปกรณ์ที่อุณหภูมิดังกล่าว
- รักษาความชื้นสัมพัทธ์ให้ต่ำกว่า 80%
- ให้เวลาอุ่นเครื่องอย่างน้อย 15 นาทีเพื่อให้แน่ใจว่าวงจรการวัดอยู่ในอุณหภูมิการทำงานที่คงที่
ซอฟต์แวร์
เนื่องจาก NI 671X/673X เป็นอุปกรณ์การวัดบนพีซี คุณต้องติดตั้งไดรเวอร์อุปกรณ์ที่เหมาะสมในระบบการสอบเทียบก่อนที่จะพยายามสอบเทียบ สำหรับขั้นตอนการสอบเทียบนี้ คุณต้องติดตั้ง NI-DAQ แบบดั้งเดิมในคอมพิวเตอร์สอบเทียบ NI-DAQ ซึ่งกำหนดค่าและควบคุม NI 671X/673X มีจำหน่ายที่ ni.com/downloads.
NI-DAQ รองรับภาษาโปรแกรมหลายภาษา รวมถึง LabVIEW, Lab Windows ™ ™ /CVI , Microsoft Visual C++, Microsoft Visual Basic และ Borland C++ เมื่อคุณติดตั้งไดรเวอร์ คุณจะต้องติดตั้งการสนับสนุนสำหรับภาษาการเขียนโปรแกรมที่คุณต้องการใช้เท่านั้น
คุณต้องมีสำเนาของ ni671xCal.dll, ni671xCal.lib และ ni671xCal.h files.
DLL มีฟังก์ชันการสอบเทียบที่ไม่มีอยู่ใน NI-DAQ รวมถึงความสามารถในการป้องกันค่าคงที่การสอบเทียบ อัปเดตวันที่สอบเทียบ และเขียนไปยังพื้นที่สอบเทียบจากโรงงาน คุณสามารถเข้าถึงฟังก์ชันใน DLL นี้ผ่านคอมไพเลอร์ 32 บิตใดก็ได้ พื้นที่การสอบเทียบของโรงงานและวันที่สอบเทียบควรได้รับการแก้ไขโดยห้องปฏิบัติการมาตรวิทยาหรือสถานที่อื่นที่รักษามาตรฐานที่ตรวจสอบย้อนกลับได้เท่านั้น
การกำหนดค่า NI 671X/673X
ต้องกำหนดค่า NI 671X/673X ใน NI-DAQ ซึ่งจะตรวจจับอุปกรณ์โดยอัตโนมัติ ขั้นตอนต่อไปนี้จะอธิบายวิธีการกำหนดค่าอุปกรณ์ใน NI-DAQ โดยสังเขป โปรดดูคู่มือผู้ใช้ NI 671X/673X สำหรับคำแนะนำในการติดตั้งโดยละเอียด คุณสามารถติดตั้งคู่มือนี้ได้เมื่อคุณติดตั้ง NI-DAQ
- เปิดใช้ตัวสำรวจการวัดและการทำงานอัตโนมัติ (MAX)
- กำหนดค่าหมายเลขอุปกรณ์ NI 671X/673X
- คลิก Test Resources เพื่อให้แน่ใจว่า NI 671X/673X ทำงานได้อย่างถูกต้อง
NI 671X/673X ได้รับการกำหนดค่าแล้ว
บันทึก หลังจากกำหนดค่าอุปกรณ์เป็น MAX แล้ว อุปกรณ์จะได้รับหมายเลขอุปกรณ์ ซึ่งใช้ในการเรียกใช้ฟังก์ชันแต่ละครั้งเพื่อระบุอุปกรณ์ DAQ ที่ต้องการปรับเทียบ
การเขียนขั้นตอนการสอบเทียบ
ขั้นตอนการปรับเทียบในส่วนการปรับเทียบ NI 671X/673X ให้คำแนะนำทีละขั้นตอนสำหรับการเรียกใช้ฟังก์ชันการปรับเทียบที่เหมาะสม ฟังก์ชันการปรับเทียบเหล่านี้เป็นการเรียกใช้ฟังก์ชัน C จาก NI-DAQ ซึ่งใช้ได้กับโปรแกรม Microsoft Visual Basic และ Microsoft Visual C++ เช่นกัน แม้ว่า LabVIEW กระบวนการนี้ไม่ได้กล่าวถึง VIs คุณสามารถตั้งโปรแกรมใน Lab ได้VIEW โดยใช้ VIs ที่มีชื่อคล้ายกับการเรียกใช้ฟังก์ชัน NI-DAQ ในโพรซีเดอร์นี้ โปรดดูที่ส่วน Flowcharts สำหรับภาพประกอบของรหัสที่ใช้ในแต่ละขั้นตอนของกระบวนการสอบเทียบ
บ่อยครั้งคุณต้องปฏิบัติตามขั้นตอนเฉพาะของคอมไพเลอร์จำนวนหนึ่งเพื่อสร้างแอปพลิเคชันที่ใช้ NI-DAQ โปรดดูเอกสารคู่มือผู้ใช้ NI-DAQ สำหรับพีซีที่เข้ากันได้ที่ ni.com/manuals สำหรับรายละเอียดเกี่ยวกับขั้นตอนที่จำเป็นสำหรับคอมไพเลอร์ที่รองรับแต่ละตัว
ฟังก์ชันจำนวนมากที่แสดงอยู่ในขั้นตอนการสอบเทียบใช้ตัวแปรที่กำหนดไว้ใน nidaqcns.h file. หากต้องการใช้ตัวแปรเหล่านี้ คุณต้องรวม nidaqcns.h file ในรหัส หากคุณไม่ต้องการใช้คำนิยามตัวแปรเหล่านี้ คุณสามารถตรวจสอบรายการการเรียกฟังก์ชันในเอกสารประกอบของ NI-DAQ และ nidaqcns.h file เพื่อกำหนดค่าอินพุตที่จำเป็น
เอกสารประกอบ
สำหรับข้อมูลเกี่ยวกับ NI-DAQ โปรดดูเอกสารต่อไปนี้:
- ความช่วยเหลือด้านการอ้างอิงฟังก์ชัน NI-DAQ แบบดั้งเดิม (เริ่ม» โปรแกรม» National Instruments» ความช่วยเหลือด้านการอ้างอิงฟังก์ชัน NI-DAQ แบบดั้งเดิม)
- คู่มือผู้ใช้ NI-DAQ สำหรับพีซีที่เข้ากันได้ ni.com/manuals
เอกสารทั้งสองฉบับนี้ให้ข้อมูลโดยละเอียดเกี่ยวกับการใช้ NI-DAQ
วิธีใช้ข้อมูลอ้างอิงฟังก์ชันประกอบด้วยข้อมูลเกี่ยวกับฟังก์ชันต่างๆ ใน NI-DAQ คู่มือผู้ใช้มีคำแนะนำสำหรับการติดตั้งและกำหนดค่าอุปกรณ์ DAQ และข้อมูลโดยละเอียดเกี่ยวกับการสร้างแอปพลิเคชันที่ใช้ NI-DAQ เอกสารเหล่านี้เป็นข้อมูลอ้างอิงหลักสำหรับการเขียนยูทิลิตี้การสอบเทียบ สำหรับข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับอุปกรณ์ที่คุณกำลังสอบเทียบ คุณอาจต้องการติดตั้งเอกสารคู่มืออุปกรณ์ด้วย
การสอบเทียบ NI 671X/673X
ในการปรับเทียบ NI 671X/673X ให้ทำตามขั้นตอนต่อไปนี้:
- ตรวจสอบประสิทธิภาพของ NI 671X/673X ขั้นตอนนี้ซึ่งอธิบายไว้ในส่วนการตรวจสอบประสิทธิภาพของ NI 671X/673X เป็นการยืนยันว่าอุปกรณ์เป็นไปตามข้อมูลจำเพาะหรือไม่ก่อนที่จะมีการปรับเปลี่ยน
- ปรับค่าคงที่ของการสอบเทียบ NI 671X/673X ตามปริมาตรที่ทราบtagอีแหล่งที่มา ขั้นตอนนี้อธิบายไว้ในส่วนการปรับ NI 671X/673X
- ตรวจสอบประสิทธิภาพอีกครั้งเพื่อให้แน่ใจว่า NI 671X/673X ทำงานได้ตามข้อกำหนดหลังจากการปรับแต่ง
บันทึก หากต้องการทราบวันที่ของการสอบเทียบครั้งล่าสุด ให้เรียก Get_Cal_Date ซึ่งมีอยู่ใน ni671x.dll CalDate เก็บวันที่ที่อุปกรณ์ได้รับการปรับเทียบครั้งล่าสุด
การตรวจสอบประสิทธิภาพของ NI 671X/673X
การตรวจสอบจะกำหนดว่าอุปกรณ์นั้นเป็นไปตามคุณสมบัติที่กำหนดไว้ดีเพียงใด
ขั้นตอนการตรวจสอบแบ่งออกเป็นฟังก์ชันหลักของอุปกรณ์
ตลอดกระบวนการตรวจสอบ ให้ดูตารางในส่วนข้อมูลจำเพาะเพื่อตรวจสอบว่าอุปกรณ์จำเป็นต้องปรับเปลี่ยนหรือไม่
การตรวจสอบเอาต์พุตแบบอะนาล็อก
ขั้นตอนนี้ตรวจสอบประสิทธิภาพของ AO ของ NI 671X/673X
NI แนะนำให้ทดสอบทุกช่องสัญญาณของอุปกรณ์ อย่างไรก็ตาม เพื่อประหยัดเวลา คุณสามารถทดสอบเฉพาะช่องสัญญาณที่ใช้ในแอปพลิเคชันของคุณ หลังจากอ่านส่วนข้อกำหนดอุปกรณ์และการทดสอบอื่นๆ แล้ว ให้ทำตามขั้นตอนต่อไปนี้:
- ถอดสายเคเบิลทั้งหมดออกจากอุปกรณ์ ตรวจสอบให้แน่ใจว่าอุปกรณ์ไม่ได้เชื่อมต่อกับวงจรอื่นนอกเหนือจากที่ระบุโดยขั้นตอนการสอบเทียบ
- หากต้องการปรับเทียบอุปกรณ์ภายใน ให้เรียกใช้ฟังก์ชัน Calibrate_E_Series โดยตั้งค่าพารามิเตอร์ต่อไปนี้ตามที่ระบุ:
• calOP ถูกตั้งค่าเป็น ND_SELF_CALIBRATE
• setOfCalConst ถูกตั้งค่าเป็น ND_USER_EEPROM_AREA
• calRefVolts ตั้งเป็น 0 - เชื่อมต่อ DMM เข้ากับ DAC0OUT ดังแสดงในตารางที่ 1
ตารางที่ 1. การเชื่อมต่อ DMM กับ DAC0OUTช่องสัญญาณขาออก อินพุต DMM บวก อินพุตเชิงลบ DMM DAC0OUT DAC0OUT (พิน 22) AOGND (พิน 56) DAC1OUT DAC1OUT (พิน 21) AOGND (พิน 55) DAC2OUT DAC2OUT (พิน 57) AOGND (พิน 23) DAC3OUT DAC3OUT (พิน 25) AOGND (พิน 58) DAC4OUT DAC4OUT (พิน 60) AOGND (พิน 26) DAC5OUT DAC5OUT (พิน 28) AOGND (พิน 61) DAC6OUT DAC6OUT (พิน 30) AOGND (พิน 63) DAC7OUT DAC7OUT (พิน 65) AOGND (พิน 63) บันทึก: หมายเลขพินมีไว้สำหรับคอนเน็กเตอร์ I/O แบบ 68 พินเท่านั้น หากคุณใช้ขั้วต่อ I/O 50 พิน โปรดดูเอกสารประกอบของอุปกรณ์สำหรับตำแหน่งการเชื่อมต่อสัญญาณ - โปรดดูตารางจากส่วนข้อมูลจำเพาะที่สอดคล้องกับอุปกรณ์ที่คุณกำลังตรวจสอบ ตารางข้อมูลจำเพาะนี้แสดงการตั้งค่าที่ยอมรับได้ทั้งหมดสำหรับอุปกรณ์
- เรียกใช้ AO_ Configure เพื่อกำหนดค่าอุปกรณ์สำหรับหมายเลขอุปกรณ์ ช่องสัญญาณ และขั้วเอาต์พุตที่เหมาะสม (อุปกรณ์ NI 671X/673X รองรับเฉพาะช่วงเอาต์พุตแบบไบโพลาร์เท่านั้น) ใช้ช่องสัญญาณ 0 เป็นช่องสัญญาณสำหรับตรวจสอบ อ่านการตั้งค่าที่เหลือจากตารางข้อมูลจำเพาะสำหรับอุปกรณ์
- เรียก AO_ V เขียนเพื่ออัพเดตช่อง AO ด้วยปริมาณที่เหมาะสมtagอี ฉบับที่tagค่า e อยู่ในตารางข้อมูลจำเพาะ
- เปรียบเทียบค่าผลลัพธ์ที่แสดงโดย DMM กับขีดจำกัดบนและล่างในตารางข้อมูลจำเพาะ หากค่าอยู่ระหว่างขีดจำกัดเหล่านี้ แสดงว่าอุปกรณ์ผ่านการทดสอบแล้ว
- ทำซ้ำขั้นตอนที่ 3 ถึง 5 จนกว่าคุณจะทดสอบค่าทั้งหมด
- ตัดการเชื่อมต่อ DMM จาก DAC0OUT และเชื่อมต่อใหม่กับช่องถัดไป โดยทำการเชื่อมต่อจากตารางที่ 1
- ทำซ้ำขั้นตอนที่ 3 ถึง 9 จนกว่าคุณจะยืนยันทุกช่อง
- ตัดการเชื่อมต่อ DMM ออกจากอุปกรณ์
คุณได้ตรวจสอบช่อง AO ของอุปกรณ์แล้ว
การตรวจสอบประสิทธิภาพของเคาน์เตอร์
ขั้นตอนนี้จะตรวจสอบประสิทธิภาพของเคาน์เตอร์ อุปกรณ์ NI 671X/673X มีฐานเวลาเดียวที่ต้องตรวจสอบ ดังนั้นคุณจึงต้องตรวจสอบเคาน์เตอร์ 0 เท่านั้น เนื่องจากคุณไม่สามารถปรับฐานเวลาได้ คุณจึงตรวจสอบประสิทธิภาพของเคาน์เตอร์ 0 ได้เท่านั้น หลังจากอ่านส่วนอุปกรณ์และข้อกำหนดการทดสอบอื่นๆ แล้ว ให้ทำตามขั้นตอนต่อไปนี้:
- เชื่อมต่ออินพุตบวกของตัวนับเข้ากับ GPCTR0_OUT (พิน 2) และอินพุตเชิงลบของตัวนับเข้ากับ DGND (พิน 35)
บันทึก หมายเลขพินมีไว้สำหรับคอนเน็กเตอร์ I/O แบบ 68 พินเท่านั้น หากคุณใช้ขั้วต่อ I/O 50 พิน โปรดดูเอกสารประกอบของอุปกรณ์สำหรับตำแหน่งการเชื่อมต่อสัญญาณ - เรียก GPCTR_ Control พร้อมกำหนดการดำเนินการเป็น ND_RESET เพื่อวางตัวนับในสถานะเริ่มต้น
- เรียก GPCTR_Set_ Application โดยตั้งค่าแอปพลิเคชันเป็น ND_PULSE_TRAIN_GNR เพื่อกำหนดค่าตัวนับสำหรับการสร้างพัลส์เทรน
- เรียก GPCTR_Change_Parameter โดยตั้งค่า paramID เป็น ND_COUNT_1 และตั้งค่า paramValue เป็น 2 เพื่อกำหนดค่าตัวนับเพื่อส่งออกพัลส์ที่มีเวลาปิด 100 ns
- เรียก GPCTR_Change_Parameter โดยตั้งค่า paramID เป็น ND_COUNT_2 และตั้งค่า paramValue เป็น 2 เพื่อกำหนดค่าตัวนับเพื่อเอาต์พุตพัลส์ที่มีเวลาตรง 100 ns
- เรียก Select_Signal โดยตั้งสัญญาณและแหล่งเป็น ND_GPCTR0_OUTPUT และกำหนดสเปกแหล่งเป็น ND_LOW_TO_HIGH เพื่อกำหนดเส้นทางสัญญาณเคาน์เตอร์ไปยังพิน GPCTR0_OUT บนขั้วต่อ I/O ของอุปกรณ์
- เรียกใช้ GPCTR_Control โดยตั้งค่าการกระทำเป็น ND_PROGRAM เพื่อเริ่มการสร้างคลื่นสี่เหลี่ยม อุปกรณ์เริ่มสร้างคลื่นสี่เหลี่ยม 5 MHz เมื่อ GPCTR_Control ดำเนินการเสร็จสิ้น
- เปรียบเทียบค่าที่ตัวนับอ่านได้กับขีดจำกัดการทดสอบที่แสดงในตารางที่เหมาะสมในส่วนข้อมูลจำเพาะ หากค่าอยู่ระหว่างขีดจำกัดเหล่านี้ แสดงว่าอุปกรณ์ผ่านการทดสอบนี้
- ถอดตัวนับออกจากอุปกรณ์
คุณได้ตรวจสอบตัวนับอุปกรณ์แล้ว
การปรับ NI 671X/673X
ขั้นตอนนี้จะปรับค่าคงที่ของการสอบเทียบ AO เมื่อสิ้นสุดขั้นตอนการสอบเทียบแต่ละครั้ง ค่าคงที่ใหม่เหล่านี้จะถูกจัดเก็บในพื้นที่โรงงานของอุปกรณ์ EEPROM ผู้ใช้ปลายทางไม่สามารถแก้ไขค่าเหล่านี้ได้ ซึ่งให้ระดับความปลอดภัยที่รับรองว่าผู้ใช้จะไม่เข้าถึงหรือแก้ไขค่าคงที่การสอบเทียบที่ปรับโดยห้องปฏิบัติการมาตรวิทยาโดยไม่ได้ตั้งใจ
ขั้นตอนนี้ในกระบวนการปรับเทียบจะเรียกใช้ฟังก์ชันใน NI-DAQ และใน ni671x.dll สำหรับข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับฟังก์ชันใน ni671x.dll โปรดดูความคิดเห็นใน ni671x.h file.
- ถอดสายเคเบิลทั้งหมดออกจากอุปกรณ์ ตรวจสอบให้แน่ใจว่าอุปกรณ์ไม่ได้เชื่อมต่อกับวงจรอื่นนอกเหนือจากที่ระบุโดยขั้นตอนการสอบเทียบ
- หากต้องการปรับเทียบอุปกรณ์ภายใน ให้เรียกใช้ฟังก์ชัน Calibrate_ E_Series ด้วยการตั้งค่าพารามิเตอร์ต่อไปนี้ตามที่ระบุ:
• คาลโอพี ตั้งค่าเป็น ND_SELF_CALIBRATE
• ชุดของค่า CalConst ตั้งค่าเป็น ND_USER_EEPROM_AREA
• แคลเรฟโวลต์ ตั้งค่าเป็น 0 - เชื่อมต่อเครื่องสอบเทียบเข้ากับอุปกรณ์ตามตารางที่ 2
ตารางที่ 2. การเชื่อมต่อเครื่องสอบเทียบเข้ากับอุปกรณ์พิน 671X/673X เครื่องสอบเทียบ EXTREF (พิน 20) ผลผลิตสูง AOGND (พิน 54) เอาต์พุตต่ำ หมายเหตุ: หมายเลขพินระบุไว้สำหรับขั้วต่อ 68 พินเท่านั้น หากคุณใช้ขั้วต่อ 50 พิน โปรดดูตำแหน่งการเชื่อมต่อสัญญาณในเอกสารคู่มืออุปกรณ์ - ตั้งค่าเครื่องสอบเทียบให้เอาต์พุตเป็นโวลtagอีของ 5.0 V.
- โทร Calibrate_E_Series โดยตั้งค่าพารามิเตอร์ต่อไปนี้ตามที่ระบุ:
• calOP ถูกตั้งค่าเป็น ND_EXTERNAL_CALIBRATE
• setOfCalConst ถูกตั้งค่าเป็น ND_USER_EEPROM_AREA
• calRefVolts ตั้งเป็น 5.0
บันทึก หากมีเล่มtage ที่จัดหาโดยแหล่งที่มาไม่รักษา 5.0 V ให้คงที่ คุณได้รับข้อผิดพลาด - โทร Copy_Const เพื่อคัดลอกค่าคงที่การปรับเทียบใหม่ไปยังส่วนที่ได้รับการป้องกันจากโรงงานของ EEPROM ฟังก์ชันนี้ยังอัปเดตวันที่สอบเทียบอีกด้วย
- ถอดเครื่องสอบเทียบออกจากอุปกรณ์
ขณะนี้อุปกรณ์ได้รับการปรับตามแหล่งที่มาภายนอก หลังจากปรับอุปกรณ์แล้ว คุณสามารถตรวจสอบการทำงานของ AO ได้โดยทำซ้ำในส่วนการตรวจสอบเอาต์พุตแบบอะนาล็อก
ข้อมูลจำเพาะ
ตารางต่อไปนี้เป็นข้อมูลจำเพาะด้านความแม่นยำเพื่อใช้ในการตรวจสอบและปรับ NI 671X/673X ตารางแสดงข้อมูลจำเพาะสำหรับช่วงเวลาการสอบเทียบ 1 ปีและ 24 ชั่วโมง
การใช้ตาราง
คำจำกัดความต่อไปนี้อธิบายวิธีการใช้ตารางข้อมูลจำเพาะในส่วนนี้
พิสัย
ช่วงหมายถึงปริมาตรสูงสุดที่อนุญาตtage ช่วงของสัญญาณอินพุตหรือเอาต์พุต สำหรับอดีตampนอกจากนี้ หากกำหนดค่าอุปกรณ์ในโหมดไบโพลาร์ที่มีช่วง 20 V อุปกรณ์จะตรวจจับสัญญาณได้ระหว่าง +10 ถึง –10 V
ขั้ว
ขั้วหมายถึงปริมาตรบวกและลบtages ของสัญญาณอินพุตที่สามารถอ่านได้ ไบโพลาร์ หมายถึง อุปกรณ์สามารถอ่านได้ทั้งโวลบวกและลบtagอี Unipolar หมายความว่าอุปกรณ์สามารถอ่านได้เฉพาะปริมาตรที่เป็นบวกtagใช่
จุดทดสอบ
จุดทดสอบคือฉบับที่tagค่า e ที่เป็นอินพุตหรือเอาต์พุตเพื่อวัตถุประสงค์ในการตรวจสอบ ค่านี้แบ่งออกเป็นตำแหน่งที่ตั้งและค่า ตำแหน่งหมายถึงตำแหน่งที่ค่าทดสอบอยู่ในช่วงการทดสอบ Pos FS หมายถึงเต็มสเกลเชิงบวก และ Neg FS หมายถึงสเกลเต็มเชิงลบ มูลค่าหมายถึงปริมาตรtage เพื่อตรวจสอบ และ Zero หมายถึงเอาต์พุตของศูนย์โวลต์
ช่วง 24 ชั่วโมง
คอลัมน์ช่วง 24 ชั่วโมงประกอบด้วยขีดจำกัดบนและขีดจำกัดล่างสำหรับค่าจุดทดสอบ หากอุปกรณ์ได้รับการปรับเทียบภายใน 24 ชั่วโมงที่ผ่านมา ค่าจุดทดสอบควรอยู่ระหว่างค่าขีดจำกัดบนและล่าง ค่าจำกัดเหล่านี้แสดงเป็นโวลต์
ช่วง 1 ปี
คอลัมน์ 1-Year Ranges ประกอบด้วยขีดจำกัดบนและขีดจำกัดล่างสำหรับค่าจุดทดสอบ หากอุปกรณ์ได้รับการสอบเทียบในปีที่แล้ว ค่าจุดทดสอบควรอยู่ระหว่างค่าขีดจำกัดบนและล่าง ขีดจำกัดเหล่านี้แสดงเป็นโวลต์
เคาน์เตอร์
เนื่องจากคุณไม่สามารถปรับความละเอียดของตัวนับ/ตัวจับเวลา ค่าเหล่านี้จึงไม่มีระยะเวลาการสอบเทียบ 1 ปีหรือ 24 ชั่วโมง อย่างไรก็ตาม จุดทดสอบและขีดจำกัดบนและล่างมีไว้เพื่อวัตถุประสงค์ในการตรวจสอบ
ตารางที่ 3 ค่าเอาท์พุตอะนาล็อก NI 671X
| ช่วง (V) | ขั้ว | จุดทดสอบ | ช่วง 24 ชั่วโมง | 1 ปี ช่วง | |||
| ที่ตั้ง | ค่า (V) | ขีดจำกัดล่าง (V) | ขีด จำกัด บน (V) | ขีดจำกัดล่าง (V) | ขีด จำกัด บน (V) | ||
| 0 | ไบโพลาร์ | ศูนย์ | 0.0 | –0.0059300 | 0.0059300 | –0.0059300 | 0.0059300 |
| 20 | ไบโพลาร์ | พอส FS | 9.9900000 | 9.9822988 | 9.9977012 | 9.9818792 | 9.9981208 |
| 20 | ไบโพลาร์ | เอฟเอสเชิงลบ | –9.9900000 | –9.9977012 | –9.9822988 | –9.9981208 | –9.9818792 |
ตารางที่ 4 ค่าเอาท์พุตอะนาล็อก NI 673X
| ช่วง (V) | ขั้ว | จุดทดสอบ | ช่วง 24 ชั่วโมง | 1 ปี ช่วง | |||
| ที่ตั้ง | ค่า (V) | ขีดจำกัดล่าง (V) | ขีด จำกัด บน (V) | ขีดจำกัดล่าง (V) | ขีด จำกัด บน (V) | ||
| 0 | ไบโพลาร์ | ศูนย์ | 0.0 | –0.0010270 | 0.0010270 | –0.0010270 | 0.0010270 |
| 20 | ไบโพลาร์ | พอส FS | 9.9900000 | 9.9885335 | 9.9914665 | 9.9883636 | 9.9916364 |
| 20 | ไบโพลาร์ | เอฟเอสเชิงลบ | –9.9900000 | –9.9914665 | –9.9885335 | –9.9916364 | –9.9883636 |
ตารางที่ 5. ค่าตัวนับ NI 671X/673X
| จุดที่กำหนด (MHz) | ขีดจำกัดล่าง (MHz) | ขีด จำกัด บน (MHz) |
| 5 | 4.9995 | 5.0005 |
ผังงาน
ผังงานเหล่านี้แสดงการเรียกใช้ฟังก์ชัน NI-DAQ ที่เหมาะสมเพื่อยืนยันและปรับแต่ง NI 671X/673X โปรดดูส่วนการปรับเทียบ NI 671X/673X วิธีใช้ข้อมูลอ้างอิงฟังก์ชัน NI-DAQ แบบดั้งเดิม (Start» Programs» National Instruments» วิธีใช้ข้อมูลอ้างอิงฟังก์ชัน NI-DAQ แบบดั้งเดิม) และคู่มือผู้ใช้ NI-DAQ สำหรับพีซีที่เข้ากันได้ที่ ni.com/manuals สำหรับข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับโครงสร้างซอฟต์แวร์
การตรวจสอบเอาต์พุตแบบอะนาล็อก
การตรวจสอบเคาน์เตอร์
การปรับ NI 671X/673X
ซีวีไอ™, แล็บVIEW™, National Instruments™, NI™, ni.com™ และ NI-DAQ™ เป็นเครื่องหมายการค้าของ National Instruments Corporation ชื่อผลิตภัณฑ์และบริษัทที่กล่าวถึงในที่นี้เป็นเครื่องหมายการค้าหรือชื่อทางการค้าของบริษัทที่เกี่ยวข้อง สำหรับสิทธิบัตรที่ครอบคลุมผลิตภัณฑ์ของ National Instruments โปรดดูที่ตำแหน่งที่เหมาะสม: ช่วยเหลือ» สิทธิบัตรในซอฟต์แวร์ของคุณ สิทธิบัตร.txt file ในซีดีของคุณ หรือ ni.com/patents.
© 2002–2004 National Instruments Corp. สงวนลิขสิทธิ์
สร้างสะพานเชื่อมระหว่างผู้ผลิตและระบบทดสอบเดิมของคุณ
41 1-800-915-6216
www.apexwaves.com
เอลส์@apexwaves.com
เครื่องหมายการค้า แบรนด์ และชื่อแบรนด์ทั้งหมดเป็นทรัพย์สินของเจ้าของที่เกี่ยวข้อง
เอกสาร / แหล่งข้อมูล
 |
โมดูลเอาท์พุตแอนะล็อก PXI-6733 ของ NATIONAL INSTRUMENTS [พีดีเอฟ] คู่มือการใช้งาน PXI-6733 โมดูลเอาต์พุตแบบอะนาล็อก, PXI-6733, โมดูลเอาต์พุตแบบอะนาล็อก, โมดูลเอาต์พุต, โมดูล |