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PXI-6733 아날로그 출력 모듈

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NI 671X/673X 교정 절차

본 문서에는 Traditional NI-DAQ을 사용하여 NI 671X(NI 6711/6713/6715) 및 NI 673X(NI 6731/6733) PCI/PXI/Compact PCI 아날로그 출력(AO) 디바이스를 교정하기 위한 지침이 포함되어 있습니다. ni671xCal.dll과 함께 이 교정 절차를 사용하십시오. file에는 NI 671X/673X 디바이스를 교정하는 데 필요한 특정 기능이 포함되어 있습니다.
애플리케이션의 측정 요구 사항에 따라 방법이 결정됩니다.
정확도를 유지하기 위해 NI 671X/673X를 교정해야 하는 경우가 많습니다. NI는 최소한 90년에 한 번 전체 교정을 수행할 것을 권장합니다. 애플리케이션 요구 사항에 따라 이 간격을 XNUMX일 또는 XNUMX개월로 단축할 수 있습니다.
참고 참조 ni.com/support/calibrat/mancalni671xCal.dll 복사본의 경우 .htm file.

보정 옵션: 내부 대 외부

NI 671X/673X에는 내부 또는 자체 교정과 외부 교정의 두 가지 교정 옵션이 있습니다.
내부 교정
내부 교정은 외부 표준에 의존하지 않는 훨씬 간단한 교정 방법입니다. 이 방법에서 장치 교정 상수는 고정밀 vol에 대해 조정됩니다.tagNI 671X/673X의 소스. 이 유형의 보정은 장치가 외부 표준에 대해 보정된 후에 사용됩니다. 그러나 온도와 같은 외부 변수는 여전히 측정에 영향을 미칠 수 있습니다. 새 교정 상수는 외부 교정 중에 생성된 교정 상수와 관련하여 정의되어 측정값을 외부 표준으로 다시 추적할 수 있습니다. 본질적으로 내부 교정은 디지털 멀티미터(DMM)에서 볼 수 있는 자동 영점 기능과 유사합니다.
외부 교정
외부 교정에는 교정기와 고정밀 DMM을 사용해야 합니다.
외부 교정 중에 DMM은 볼륨을 공급하고 읽습니다.tag장치에서 es. 보고된 볼륨을 보장하기 위해 장치 교정 상수를 조정합니다.tages는 장치 사양 내에 있습니다. 새로운 보정 상수는 장치 EEPROM에 저장됩니다. 온보드 교정 상수가 조정된 후 고정밀 voltag장치의 소스가 조정됩니다. 외부 교정은 NI 671X/673X에서 수행한 측정 오류를 보상하는 데 사용할 수 있는 교정 상수 세트를 제공합니다.

장비 및 기타 테스트 요구 사항

이 섹션에서는 NI 671X/673X를 교정하는 데 필요한 장비, 테스트 조건, 문서 및 소프트웨어에 대해 설명합니다.
테스트 장비
NI 671X/673X 디바이스를 교정하려면 교정기와 디지털 멀티미터(DMM)가 필요합니다. NI는 다음 테스트 장비를 사용할 것을 권장합니다.

교정기—Fluke 5700A

DMM - 애질런트(HP) 3458A

Agilent 3458A DMM이 없는 경우 정확도 사양을 사용하여 대체 교정 표준을 선택하십시오. NI 671X/673X 디바이스를 교정하려면 최소 40ppm(0.004%) 정확도의 고정밀 DMM이 필요합니다. 교정기는 50비트 장치의 경우 최소 0.005ppm(12%), 10비트 장치의 경우 0.001ppm(16%) 정확도여야 합니다.
사용자 지정 연결 하드웨어가 없는 경우 NI CB-68과 같은 커넥터 블록과 SH68-68-EP와 같은 케이블이 필요할 수 있습니다. NI 6715의 경우 SHC68-68-EP 케이블을 사용하십시오. 이러한 구성 요소를 사용하면 68핀 I/O 커넥터의 개별 핀에 쉽게 액세스할 수 있습니다.
테스트 조건
보정 중 연결 및 테스트 조건을 최적화하려면 다음 지침을 따르십시오.

NI 671X/673X에 대한 연결을 짧게 유지하십시오. 긴 케이블과 와이어는 안테나 역할을 하여 측정에 영향을 미칠 수 있는 추가 노이즈를 포착합니다.
장치에 대한 모든 케이블 연결에는 차폐 구리선을 사용하십시오.

트위스트 페어 와이어를 사용하여 노이즈 및 열 오프셋을 제거하십시오.
18~28°C의 온도를 유지하십시오. 이 범위 밖의 특정 온도에서 모듈을 작동하려면 해당 온도에서 장치를 보정하십시오.

상대 습도를 80% 이하로 유지하십시오.
측정 회로가 안정적인 작동 온도에 있도록 최소 15분의 예열 시간을 두십시오.

소프트웨어

NI 671X/673X는 PC 기반 측정 디바이스이기 때문에 교정을 시도하기 전에 교정 시스템에 적절한 디바이스 드라이버를 설치해야 합니다. 이 교정 절차를 위해서는 교정 컴퓨터에 Traditional NI-DAQ이 설치되어 있어야 합니다. NI 671X/673X를 구성하고 컨트롤하는 NI-DAQ는 다음에서 구입하실 수 있습니다. ni.com/downloads.
NI-DAQ은 Lab을 포함한 다양한 프로그래밍 언어를 지원합니다.VIEW, Lab Windows ™ ™ /CVI, Microsoft Visual C++, Microsoft Visual Basic 및 Borland C++. 드라이버를 설치할 때 사용하려는 프로그래밍 언어에 대한 지원만 설치하면 됩니다.
또한 ni671xCal.dll, ni671xCal.lib 및 ni671xCal.h의 복사본이 필요합니다. files.
DLL은 교정 상수를 보호하고, 교정 날짜를 업데이트하고, 공장 교정 영역에 쓰는 기능을 포함하여 NI-DAQ에 없는 교정 기능을 제공합니다. 32비트 컴파일러를 통해 이 DLL의 함수에 액세스할 수 있습니다. 공장 교정 영역과 교정 날짜는 추적 가능한 표준을 유지 관리하는 계측 실험실 또는 다른 시설에서만 수정해야 합니다.
NI 671X/673X 구성하기
NI 671X/673X는 디바이스를 자동으로 감지하는 NI-DAQ에서 구성해야 합니다. 다음 단계는 NI-DAQ에서 장치를 구성하는 방법을 간략하게 설명합니다. 자세한 설치 방법은 NI 671X/673X 사용자 매뉴얼을 참조하십시오. NI-DAQ을 설치할 때 이 매뉴얼을 함께 설치할 수 있습니다.

측정 및 자동화 탐색기(MAX)를 실행합니다.
NI 671X/673X 디바이스 번호를 구성합니다.

테스트 리소스를 클릭하여 NI 671X/673X가 제대로 작동하는지 확인하십시오.

이제 NI 671X/673X가 구성되었습니다.
메모 디바이스가 MAX에서 구성되면 디바이스에 디바이스 번호가 할당되며, 이 번호는 교정할 DAQ 디바이스를 식별하기 위해 각 함수 호출에서 사용됩니다.
교정 절차 작성
NI 671X/673X 교정하기 섹션의 교정 절차는 적절한 교정 함수를 호출하기 위한 단계별 지침을 제공합니다. 이러한 교정 함수는 Microsoft Visual Basic 및 Microsoft Visual C++ 프로그램에도 유효한 NI-DAQ의 C 함수 호출입니다. 비록 연구실VIEW VI는 이 절차에서 다루지 않으며 랩에서 프로그래밍할 수 있습니다.VIEW 이 절차에서 NI-DAQ 함수 호출과 유사한 이름을 가진 VI를 사용합니다. 보정 절차의 각 단계에서 사용되는 코드 그림은 순서도 섹션을 참조하십시오.
종종 NI-DAQ을 사용하는 어플리케이션을 생성하기 위해 여러 컴파일러 특정 단계를 따라야 합니다. 지원되는 각 컴파일러에 필요한 단계에 대한 자세한 내용은 ni.com/manuals에서 PC 호환용 NI-DAQ 사용자 매뉴얼을 참조하십시오.
보정 절차에 나열된 많은 기능은 nidaqcns.h에 정의된 변수를 사용합니다. file. 이러한 변수를 사용하려면 nidaqcns.h를 포함해야 합니다. file 코드에서. 이러한 변수 정의를 사용하지 않으려면 NI-DAQ 문서 및 nidaqcns.h에서 함수 호출 목록을 검토할 수 있습니다. file 필요한 입력 값을 결정합니다.
선적 서류 비치
NI-DAQ에 대한 정보는 다음 문서를 참조하십시오.

Traditional NI-DAQ 함수 참조 도움말 (시작» 프로그램» National Instruments» Traditional NI-DAQ 함수 참조 도움말)
PC 호환용 NI-DAQ 사용자 매뉴얼: ni.com/manuals

이 두 문서는 NI-DAQ 사용에 대한 자세한 정보를 제공합니다.
함수 참조 도움말에는 NI-DAQ의 함수에 대한 정보가 포함되어 있습니다. 사용자 매뉴얼은 DAQ 디바이스 설치 및 구성에 대한 지침과 NI-DAQ를 사용하는 어플리케이션 생성에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 이 문서는 교정 유틸리티를 작성하기 위한 기본 참조 자료입니다. 교정 중인 장치에 대한 추가 정보를 보려면 장치 설명서를 설치할 수도 있습니다.

NI 671X/673X 교정하기

NI 671X/673X를 교정하려면 다음 단계를 완료하십시오.

NI 671X/673X의 성능을 확인하십시오. NI 671X/673X 성능 검증 섹션에 설명된 이 단계는 조정에 앞서 디바이스가 사양에 맞는지 확인합니다.
알려진 볼륨에 따라 NI 671X/673X 교정 상수를 조정합니다.tage 소스. 이 단계는 NI 671X/673X 조정 섹션에 설명되어 있습니다.

조정 후 NI 671X/673X가 사양 내에서 작동하는지 확인하기 위해 성능을 다시 검증하십시오.

메모 마지막 교정 날짜를 확인하려면 ni671x.dll에 포함된 Get_Cal_Date를 호출하십시오. CalDate는 장치가 마지막으로 교정된 날짜를 저장합니다.
NI 671X/673X의 성능 확인하기
검증은 장치가 사양을 얼마나 잘 충족하는지 확인합니다.
검증 절차는 장치의 주요 기능으로 구분됩니다.
확인 프로세스 전반에 걸쳐 사양 섹션의 표를 참조하여 장치에 조정이 필요한지 확인하십시오.
아날로그 출력 확인
이 절차는 NI 671X/673X의 AO 성능을 검증합니다.
NI는 디바이스의 모든 채널을 테스트할 것을 권장합니다. 그러나 시간을 절약하기 위해 애플리케이션에 사용되는 채널만 테스트할 수 있습니다. 장비 및 기타 테스트 요구 사항 섹션을 읽은 후 다음 단계를 완료하십시오.

장치에서 모든 케이블을 분리하십시오. 장치가 보정 절차에서 지정한 회로 이외의 회로에 연결되어 있지 않은지 확인하십시오.
장치를 내부적으로 보정하려면 다음 매개변수를 표시된 대로 설정하여 Calibrate_E_Series 함수를 호출하십시오.
• calOP가 ND_SELF_CALIBRATE로 설정됨
• ND_USER_EEPROM_AREA로 설정된 setOfCalConst
• calRefVolts가 0으로 설정됨

표 0과 같이 DMM을 DAC1OUT에 연결합니다.
표 1. DAC0OUT에 DMM 연결

출력 채널	DMM 포지티브 입력	DMM 네거티브 입력
DAC0OUT	DAC0OUT(핀 22)	AOGND(핀 56)
DAC1OUT	DAC1OUT(핀 21)	AOGND(핀 55)
DAC2OUT	DAC2OUT(핀 57)	AOGND(핀 23)
DAC3OUT	DAC3OUT(핀 25)	AOGND(핀 58)
DAC4OUT	DAC4OUT(핀 60)	AOGND(핀 26)
DAC5OUT	DAC5OUT(핀 28)	AOGND(핀 61)
DAC6OUT	DAC6OUT(핀 30)	AOGND(핀 63)
DAC7OUT	DAC7OUT(핀 65)	AOGND(핀 63)
메모: 핀 번호는 68핀 I/O 커넥터에만 제공됩니다. 50핀 I/O 커넥터를 사용하는 경우 신호 연결 위치는 장치 설명서를 참조하십시오.

확인 중인 장치에 해당하는 사양 섹션의 표를 참조하십시오. 이 사양표는 장치에 허용되는 모든 설정을 보여줍니다.
AO_ 구성을 호출하여 적절한 디바이스 번호, 채널 및 출력 극성에 대해 디바이스를 구성하십시오. (NI 671X/673X 디바이스는 양극성 출력 범위만 지원합니다.) 채널 0을 확인 채널로 사용하세요. 장치 사양표에서 나머지 설정을 읽어보세요.
AO_ V Write를 호출하여 적절한 볼륨으로 AO 채널을 업데이트합니다.tag이자형. 권tage 값은 사양표에 있습니다.
DMM에 표시된 결과 값을 사양표의 상한 및 하한과 비교하십시오. 값이 이 한도 사이에 있으면 장치가 테스트를 통과한 것입니다.
모든 값을 테스트할 때까지 3-5단계를 반복합니다.
DAC0OUT에서 DMM을 분리하고 다음 채널에 다시 연결하여 표 1과 같이 연결합니다.
모든 채널을 확인할 때까지 3~9단계를 반복합니다.
장치에서 DMM을 분리합니다.

이제 장치의 AO 채널을 확인했습니다.
카운터 성능 확인
이 절차는 카운터의 성능을 확인합니다. NI 671X/673X 디바이스에는 검증할 타임베이스가 하나뿐이므로 카운터 0만 검증하면 됩니다. 이 타임베이스를 조정할 수 없기 때문에 카운터 0의 성능만 검증할 수 있습니다. 장비 및 기타 테스트 요구사항 섹션을 읽은 후 다음을 완료하십시오. 다음 단계:

카운터 포지티브 입력을 GPCTR0_OUT(핀 2)에 연결하고 카운터 네거티브 입력을 DGND(핀 35)에 연결합니다.
메모 핀 번호는 68핀 I/O 커넥터에만 제공됩니다. 50핀 I/O 커넥터를 사용하는 경우 신호 연결 위치는 장치 설명서를 참조하십시오.
카운터를 기본 상태로 설정하려면 작업을 ND_RESET으로 설정하여 GPCTR_ Control을 호출하세요.
펄스열 생성을 위한 카운터를 구성하려면 ND_PULSE_TRAIN_GNR로 설정된 애플리케이션을 사용하여 GPCTR_ Set_ Application을 호출하세요.
paramID가 ND_COUNT_1로 설정되고 paramValue가 2로 설정된 GPCTR_Change_Parameter를 호출하여 꺼짐 시간이 100ns인 펄스를 출력하도록 카운터를 구성합니다.
paramID가 ND_COUNT_2로 설정되고 paramValue가 2로 설정된 GPCTR_Change_Parameter를 호출하여 카운터가 100ns의 켜짐 시간으로 펄스를 출력하도록 구성합니다.
신호 및 소스가 ND_GPCTR0_OUTPUT으로 설정되고 소스 사양이 ND_LOW_TO_HIGH로 설정된 Select_Signal을 호출하여 카운터 신호를 장치 I/O 커넥터의 GPCTR0_OUT 핀으로 라우팅합니다.
ND_PROGRAM으로 설정된 동작으로 GPCTR_Control을 호출하여 구형파 생성을 시작합니다. 장치는 GPCTR_Control이 실행을 완료하면 5MHz 구형파를 생성하기 시작합니다.

카운터에서 읽은 값을 사양 섹션의 해당 표에 표시된 테스트 한계와 비교하십시오. 값이 이 한도 사이에 있으면 장치가 이 테스트를 통과한 것입니다.
장치에서 카운터를 분리하십시오.

이제 장치 카운터를 확인했습니다.
NI 671X/673X 조정하기
이 절차는 AO 교정 상수를 조정합니다. 각 교정 절차가 끝나면 이러한 새 상수는 장치 EEPROM의 공장 영역에 저장됩니다. 최종 사용자는 이러한 값을 수정할 수 없으므로 사용자가 계측 실험실에서 조정한 교정 상수에 실수로 액세스하거나 수정하지 않도록 하는 보안 수준을 제공합니다.
교정 프로세스의 이 단계는 NI-DAQ 및 ni671x.dll의 함수를 호출합니다. ni671x.dll의 기능에 대한 자세한 내용은 ni671x.h의 주석을 참조하십시오. file.

장치에서 모든 케이블을 분리하십시오. 장치가 보정 절차에서 지정한 회로 이외의 회로에 연결되어 있지 않은지 확인하십시오.
장치를 내부적으로 교정하려면 다음 매개변수를 표시된 대로 설정하여 Calibrate_E_Series 함수를 호출하십시오.
• 칼OP ND_SELF_CALIBRATE로 설정
• setOfCalConst ND_USER_EEPROM_AREA로 설정
• calRefVolts 0으로 설정

표 2에 따라 교정기를 장치에 연결합니다.
표 2. 캘리브레이터를 장치에 연결

671X/673X 핀	캘리브레이터
EXTREF(핀 20)	출력 높음
AOGND(핀 54)	낮은 출력
참고: 핀 번호는 68핀 커넥터에만 제공됩니다. 50핀 커넥터를 사용하는 경우 신호 연결 위치는 장치 설명서를 참조하십시오.

볼륨을 출력하도록 캘리브레이터 설정tag5.0V의 e.
표시된 대로 다음 매개변수를 설정하여 Calibrate_E_Series를 호출합니다.
• calOP가 ND_EXTERNAL_CALIBRATE로 설정됨
• ND_USER_EEPROM_AREA로 설정된 setOfCalConst
• calRefVolts가 5.0으로 설정됨
메모 볼륨이tag소스에서 공급하는 e가 5.0V를 일정하게 유지하지 않으면 오류가 발생합니다.
Copy_Const를 호출하여 새 교정 상수를 EEPROM의 공장 보호 부분에 복사합니다. 이 기능은 교정 날짜도 업데이트합니다.

장치에서 교정기를 분리합니다.

이제 장치가 외부 소스와 관련하여 조정되었습니다. 장치가 조정된 후 아날로그 출력 확인 섹션을 반복하여 AO 작동을 확인할 수 있습니다.

명세서

다음 표는 NI 671X/673X를 확인하고 조정할 때 사용할 정확도 사양입니다. 표는 1년 및 24시간 교정 간격에 대한 사양을 보여줍니다.

테이블 사용
다음 정의는 이 섹션의 사양 테이블을 사용하는 방법을 설명합니다.
범위
범위는 최대 허용량을 나타냅니다.tage 입력 또는 출력 신호의 범위. 예를 들어amp예를 들어 장치가 20V 범위의 바이폴라 모드로 구성된 경우 장치는 +10~-10V 사이의 신호를 감지할 수 있습니다.
극성
극성은 양수 및 음수 볼륨을 나타냅니다.tag읽을 수 있는 입력 신호의 es. 바이폴라는 장치가 양수 및 음수 볼륨을 모두 읽을 수 있음을 의미합니다.tag예. 유니폴라는 장치가 양의 볼륨만 읽을 수 있음을 의미합니다.tag에스.
테스트 포인트
테스트 포인트는 voltage 확인 목적으로 입력 또는 출력되는 값입니다. 이 값은 위치와 값으로 나뉩니다. 위치는 테스트 값이 테스트 범위 내에서 맞는 위치를 나타냅니다. Pos FS는 포지티브 풀 스케일, Neg FS는 네거티브 풀 스케일을 나타냅니다. 값은 볼륨을 나타냅니다.tage는 검증 대상이며 Zero는 제로 볼트 출력을 의미합니다.

24시간 범위
24시간 범위 열에는 테스트 포인트 값의 상한값과 하한값이 포함되어 있습니다. 장치가 지난 24시간 내에 보정된 경우 테스트 포인트 값은 상한값과 하한값 사이에 있어야 합니다. 이러한 제한 값은 볼트로 표시됩니다.

1년 범위
1년 범위 열에는 테스트 포인트 값의 상한값과 하한값이 포함되어 있습니다. 장치가 작년에 보정된 경우 테스트 포인트 값은 상한값과 하한값 사이에 있어야 합니다. 이러한 제한은 볼트로 표시됩니다.
카운터
카운터/타이머의 분해능을 조정할 수 없기 때문에 이러한 값에는 1년 또는 24시간 교정 기간이 없습니다. 단, 검증 목적으로 시험점과 상한 및 하한을 제공한다.
표 3. NI 671X 아날로그 출력 값

범위 (V)	극성	테스트 포인트		24시간 범위		1년 범위
범위 (V)	극성	위치	가치 (V)	하한(V)	상한(V)	하한(V)	상한(V)
0	양극성	영	0.0	–0.0059300	0.0059300	–0.0059300	0.0059300
20	양극성	포스 FS	9.9900000	9.9822988	9.9977012	9.9818792	9.9981208
20	양극성	부정 FS	–9.9900000	–9.9977012	–9.9822988	–9.9981208	–9.9818792

표 4. NI 673X 아날로그 출력 값

범위 (V)	극성	테스트 포인트		24시간 범위		1년 범위
범위 (V)	극성	위치	가치 (V)	하한(V)	상한(V)	하한(V)	상한(V)
0	양극성	영	0.0	–0.0010270	0.0010270	–0.0010270	0.0010270
20	양극성	포스 FS	9.9900000	9.9885335	9.9914665	9.9883636	9.9916364
20	양극성	부정 FS	–9.9900000	–9.9914665	–9.9885335	–9.9916364	–9.9883636

표 5. NI 671X/673X 카운터 값

설정점(MHz)	하한(MHz)	상한(MHz)
5	4.9995	5.0005

플로우차트

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아날로그 출력 확인

카운터 확인

NI 671X/673X 조정하기

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