Inhalt

• 1 Analoges Oszilloskop

  • 1.1 Funktionsbeschreibung

  • 1.1.1 Analoges und digitales Oszilloskop

  • 1.1.2 Aufbau eines analogen Oszilloskops

  • 1.1.3 Horizontale Zeitablenkung und X-Verstärker

  • 1.1.4 Triggerung

  • 1.1.5 Y-Eingangskanal mit Verstärker

  • 1.1.6 Oszilloskopeinstellungen

  • 1.2 Grundversuche

  • 1.2.1 Untersuchung des Y-Kanals

  • 1.2.2 Messung von Gleichstrom

  • 1.2.3 Messung von Wechselspannung

  • 1.2.4 X- und Y-Ablenkung mit Sinusspannung

  • 1.2.5 Strom-Spannungs-Kennlinie eines Widerstands

  • 1.2.6 Strom-Spannungs-Kennlinie einer Diode

  • 1.2.7 Strom-Spannungs-Kennlinie einer Z-Diode

  • 1.2.8 Strom-Spannungs-Kennlinie eines DIAC

  • 1.3 Tastkopf

  • 1.3.1 Frequenzkompensierter Spannungsteiler im Tastkopf

  • 1.3.2 Kapazitätsarmer Tastkopf

  • 1.3.3 Inbetriebnahme des Oszilloskops

  • 1.3.4 Zweikanaloszilloskop

  • 1.4 Praktische Handhabung eines Oszilloskops

  • 1.4.1 Einstellen der Empfindlichkeit

  • 1.4.2 Anschluss eines Oszilloskops an eine Messschaltung

  • 1.4.3 Triggerverhalten an einer Messschaltung

  • 1.5 Messungen mit Oszilloskop

  • 1.5.1 Messung einer Dreieckspannung

  • 1.5.2 Messung einer Rechteckspannung

  • 1.5.3 Messung einer AM-Spannungsquelle

  • 1.5.4 Messung einer FM-Spannungsquelle

• 2 Messpraktikum für analoge Zwei- und Vierkanal-Oszilloskope

  • 2.1 Messungen von unsymmetrischen Spannungen

  • 2.1.1 Addition von Spannungen verschiedener Frequenzen

  • 2.1.2 Add. von Spannungen verschiedener Frequenz und Phasenversch.

  • 2.1.3 Addition dreier Spannungen verschiedener Frequenz

  • 2.1.4 Messung einer Schwebung

  • 2.1.5 Lissajous-Figuren zur Frequenzmessung

  • 2.1.6 Lissajous-Figur zur Phasenmessung

  • 2.1.7 Phasenmessung mit Lissajous-Figur

  • 2.2 Messungen an Reihenschaltungen

  • 2.2.1 Messungen an einem RC-Glied

  • 2.2.2 Messungen an einem RL-Glied

  • 2.2.3 Messungen an einem RCL-Glied

  • 2.2.4 Messung der kapazitiven Blindleistung

  • 2.2.5 Messung der induktiven Blindleistung

• 3 Arbeiten und Messen mit dem digitalen Speicheroszilloskop

  • 3.1 Merkmale eines digitalen Oszilloskops

  • 3.1.1 Interne Funktionseinheiten

  • 3.1.2 Analog-Digital-Wandler

  • 3.1.3 Zeitbasis und horizontale Auflösung

  • 3.1.4 Möglichkeiten des Abtastbetriebs

  • 3.1.5 Speicherung von Signalinformationen

  • 3.2 Funktionen und Bedienelemente

  • 3.2.1 Parametereinstellungen

  • 3.2.2 Triggerfunktionen

  • 3.2.3 Spezielle Triggerfunktionen

  • 3.2.4 Triggermethoden für Störimpulse

  • 3.2.5 Auswertung von Messsignalen

  • 3.2.6 Digitale Filterung

  • 3.2.7 Verarbeitung von Messsignalen

  • 3.2.8 Spezialfunktionen eines digitalen Speicheroszilloskops

  • 3.2.9 Automatische Messung mit der Cursorsteuerung

  • 3.2.10 Arbeiten mit dem Messcursor

  • 3.3 Analysemethoden

  • 3.3.1 Analysiermethoden

  • 3.3.2 Simulation und Analyse

  • 3.3.3 AC-Frequenzanalyse

  • 3.3.4 Zeitbereichs-Transientenanalyse

  • 3.3.5 Fourier-Analyse

  • 3.3.6 Rausch- und Rauschzahlanalyse

  • 3.3.7 Verzerrungsanalyse

  • 3.3.8 Empfindlichkeitsanalyse

  • 3.3.9 Monte-Carlo-Analyse

  • 3.3.10 Worst-Case-Analyse (ungünstige Bedingungen)

  • 3.4 Messung von Bitfehlern

  • 3.4.1 Definition der Bitfehlerrate (BER)

  • 3.4.2 Messtechnische Erfassung der Bitfehlerrate

  • 3.4.3 BER-Messung auf digitaler Basis

  • 3.4.4 BER-Messung auf analoger Basis (Augendiagramm)

  • 3.4.5 Bitfehlerdarstellung im Signalzustandsdiagramm

  • 3.5 Oszilloskop mit LCD-Flachbildschirm

  • 3.5.1 Technologie der LCD-Flachbildschirme

  • 3.5.2 Prinzip der verschiedenen Panels

  • 3.5.3 Optimierungen der LCD-Technologie

  • 3.5.4 Bildauflösung

  • 3.5.5 Oszilloskop mit LCD-Bildschirm

• 4 Logikanalysator

  • 4.1 Hardwareentwicklung mit Logikanalysator

  • 4.1.1 Anschluss eines Logikanalysators

  • 4.1.2 Speicher des Logikanalysators

  • 4.1.3 Referenzspeicher eines Logikanalysators

  • 4.2 Anwendungen des simulierten Logikanalysators

  • 4.2.1 Logikanalysator und Bitmustergenerator

  • 4.2.2 Simulierter Bitmustergenerator

  • 4.2.3 Simulierter Logikanalysator

  • 4.2.4 Untersuchung des Dezimalzählers 74290

  • 4.2.5 Untersuchung des Schieberegisters 74164

  • 4.2.6 Elektronische Weiche

  • 4.2.7 BCD-zu-Dezimal-Decoder/Anzeigentreiber 74145

  • 4.2.8 CMOS-Zähler 4024 (7-stufiger Binärzähler)

  • 4.2.9 CMOS-Zähler 4510 (programmierbarer BCD-Zähler)

  • 4.2.10 Integriertes Monoflop 74121

  • 4.2.11 Integriertes retriggerbares Monoflop 74123

  • 4.2.12 Verzögerungen von Impulsflanken durch ein Monoflop

  • 4.2.13 Untersuchung eines 8-Bit-DA-Wandlers

  • 4.2.14 Untersuchung eines 8-Bit-AD-Wandlers

• 5 Bode-Plotter

  • 5.1 Arbeiten mit dem Bode-Plotter

  • 5.2 Präzisions-Funktionsgenerator MAX038

  • 5.2.1 Blockschaltung des Funktionsgenerators MAX038

  • 5.2.2 Funktionsgenerator mit dem MAX038

  • 5.2.3 Wobbler mit dem MAX038

  • 5.3 Anwendungsbeispiele für einen Bode-Plotter

  • 5.3.1 Verhalten eines passiven RC-Hochpassfilters

  • 5.3.2 Verhalten eines Reihenschwingkreises

  • 5.3.3 Verhalten eines Parallelschwingkreises

  • 5.3.4 Untersuchung eines LC-Filters

  • 5.3.5 Untersuchung eines T- und n-Filters

  • 5.3.6 Untersuchung eines Tiefpass-Doppelsiebgliedes

  • 5.3.7 Untersuchung eines LC-Bandpasses

  • 5.3.8 Untersuchung einer LC-Bandsperre

  • 5.4 Aktive Filterschaltungen

  • 5.4.1 Aktiver Tiefpass 1. Ordnung

  • 5.4.2 Aktiver Hochpass 1.Ordnung

  • 5.4.3 Aktive Tiefpassfilter 2.Ordnung mit Zweifachgegenkopplung

  • 5.4.4 Aktive Tiefpassfilter 2. Ordnung mit Einfachmitkopplung

  • 5.4.5 Aktives Hochpassfilter 2.Ordnung

  • 5.4.6 Umwandlung von Tiefpass- in Hochpassfilter

  • 5.5 Aktive Bandpass- und Bandsperrfilter

  • 5.5.1 Selektiver Verstärker mit Schwingkreis

  • 5.5.2 Selektives Filter 2.Ordnung in Gegenkopplung

  • 5.5.3 Selektives Filter 2.Ordnung in Mitkopplung

  • 5.5.4 Aktive Bandsperre mit T-Filter

• 6 Spektrumanalysator

  • 6.1 Grundlagen eines Spektrumanalysators

  • 6.1.1 Aufbau eines Spektrumanalysators

  • 6.1.2 Eigenschaften von Spektrumanalysatoren

  • 6.1.3 Formfaktor der Zwischenfrequenzfilter

  • 6.1.4 Einseitenband-Phasenrauschen

  • 6.1.5 Amplituden- und Frequenzmodulation

  • 6.2 Arbeiten mit Dezibel

  • 6.2.1 Logarithmische Bezugsgröße

  • 6.2.2 Dämpfung und Verstärkung

  • 6.2.3 Messung von Rauschsignalen

  • 6.2.4 Addition von Spannungen

  • 6.2.5 Spitzenspannung

  • 6.3 Anwendungen der dB-Messungen

  • 6.3.1 S/N-Signal-Rauschabstand

  • 6.3.2 Frequenzverhältnis und Amplituden

  • 6.3.3 Verzerrungen und Klirrfaktor

  • 6.3.4 Rauschen

  • 6.3.5 Mittelwertbildung von Rauschsignalen

  • 6.3.6 Rauschzahl und Rauschmaß

  • 6.3.7 Phasenrauschen

  • 6.3.8 S-Parameter

  • 6.3.9 VSWR-Wert und Reflexionsfaktor

  • 6.3.10 Feldstärke

  • 6.3.11 Antennengewinn

  • 6.3.12 Crestfaktor

  • 6.3.13 Kanal- und Nachbarkanalleistung

  • 6.3.14 Dynamikumfang von AD- und DA-Wandlern

  • 6.3.15 Skalenendwert dB (FS)

  • 6.3.16 Schalldruckpegel

• 7 Netzwerkanalysator

  • 7.1 Aufbau eines Netzwerkanalysators

  • 7.1.1 Systematische Fehler des Netzwerkanalysators

  • 7.1.2 Kalibrierung und Systemfehlerkorrektur

  • 7.2 Smith-Diagramm und Ortskurven

  • 7.2.1 Maßstab und Normierung im Smith-Kreisdiagramm

  • 7.2.2 Komplexe Widerstände

  • 7.2.3 Grafische Methode für die Umwandlung von komplexen Widerständen

  • 7.2.4 Grafische Methode für die Umwandlung einer RC-Reihenschaltung in eine RC-Parallelschaltung

  • 7.2.5 Grafische Methode für die Umwandlung einer RC-Parallelschaltung in eine RC-Reihenschaltung

  • 7.2.6 Grafische Transformation (Smith-Kreisdiagramm) einer RL-Parallelschaltung in eine RL-Reihenschaltung

  • 7.2.7 Grafische Transformation (Smith-Kreisdiagramm) einer RL-Reihenschaltung in eine RL-Parallelschaltung

  • 7.2.8 Grafische Transformation einer RC-Parallelschaltung in eine RC-Reihenschaltung

  • 7.2.9 Grafische Transformation einer RC-Reihenschaltung in eine RC-Parallelschaltung

  • 7.2.10 Grafische Darstellung der Parallelschaltung mit Blindwiderstand bei veränderbaren Frequenzen

  • 7.2.11 Grafische Darstellung der RL-Parallelschaltung mit veränderbarem Wirkwiderstand bei konstanter Frequenz

  • 7.2.12 Grafische Darstellung der Reihenschaltung mit Blindwiderstand und veränderbarer Frequenz

  • 7.2.13 Grafische Darstellung der Reihenschaltung eines Blindwiderstands mit veränderbarem Wirkwiderstand bei konstanter Frequenz

  • 7.3 Analyseverfahren mit dem Netzwerkanalysator

  • 7.3.1 S-Parameter

  • 7.3.2 T-Parameter

  • 7.3.3 M-Parameter

  • 7.3.4 X-Parameter und S-Funktion

  • 7.3.5 Reflexionsfaktor

  • 7.3.6 Rückflussdämpfung

  • 7.3.7 Leitungstheorie

  • 7.3.8 Stehwellenverhältnis

  • 7.3.9 Impedanz

  • 7.3.10 Dämpfung

  • 7.3.11 Gruppenlaufzeit

  • 7.4 Anpassschaltung für HF-Transistoren

  • 7.4.1 Anpasselemente aus n-Gliedern

  • 7.4.2 Anpassschaltung für Kopplung von zwei Transistoren

Stichwortverzeichnis