NATIONAL INSTRUMENTS NI-DAQmx 用 AO 波形校正手順ユーザーガイド

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1 NI-DAQmx の AO 波形キャリブレーション手順

2 コンベンション

NI-DAQmx の AO 波形キャリブレーション手順

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見積もり依頼 PXI-6733 National Instruments アナログ出力モジュール | Apex Waves PXI-6733

コンベンション

このマニュアルでは次の表記規則が使用されます。

	省略記号で区切られた数字を含む山括弧は、ビット名または信号名に関連付けられた値の範囲を表します。たとえば、ample、P0.<0..7>。
	» 記号は、ネストされたメニュー項目とダイアログボックスのオプションを経て、最終的なアクションに進みます。シーケンス File»ページ設定»オプションでは、プルダウンするように指示されます。 File メニューから [ページ設定] 項目を選択し、最後のダイアログボックスで [オプション] を選択します。
	このアイコンは、重要な情報を警告するメモを示します。
大胆な	太字のテキストは、メニュー項目やダイアログボックスのオプションなど、ソフトウェア内で選択またはクリックする必要がある項目を示します。太字のテキストは、パラメータ名やハードウェアラベルも示します。
イタリック	斜体のテキストは、変数、強調、相互参照、または重要な概念の紹介を示します。このフォントは、入力する必要がある単語または値のプレースホルダーであるテキストも示します。
等幅	等幅テキストは、キーボードから入力する必要があるテキストまたは文字、コードのセクション、プログラミングなどを示します。amples、および構文 exampレス。このフォントは、ディスクドライブ、パス、ディレクトリ、プログラム、サブプログラム、サブルーチン、デバイス名、関数、操作、変数などの固有名にも使用されます。 file名前と拡張子。
等幅斜体	このフォントの斜体のテキストは、指定する必要がある単語または値のプレースホルダーであるテキストを示します。

導入

このドキュメントには、PCI/PXI/CompactPCI アナログ出力 (AO) デバイス用の NI 671X/672X/673X のキャリブレーション手順が記載されています。
この文書では、プログラミング手法やコンパイラ構成については説明しません。 National Instruments DAQmx ドライバにはヘルプが含まれています fileコンパイラ固有の命令と詳細な関数の説明が記載されています。これらのヘルプを追加できます file■ NI-DAQmx をキャリブレーションコンピュータにインストールするとき。
AO デバイスは、アプリケーションの測定精度要件によって定義された間隔で定期的に校正する必要があります。 National Instruments では、少なくとも年に 90 回は完全な校正を実行することをお勧めします。この間隔は XNUMX 日または XNUMX か月に短縮できます。

ソフトウェア

キャリブレーションには最新のNI-DAQmxドライバが必要です。 NI-DAQmxには、デバイスを校正するソフトウェアを作成するタスクを簡素化する高レベルの関数呼び出しが含まれています。ドライバーは、Lab を含む多くのプログラミング言語をサポートしています。VIEW、LabWindows ™/CVI ™、microsoft Visual C++、microsoft Visual Basic、および Borland C++ です。

ドキュメント

NI-DAQmxドライバを使用している場合、キャリブレーションユーティリティを作成する際の主な参考資料は次のドキュメントです。

NI-DAQmx Cリファレンスヘルプには、ドライバの関数に関する情報が含まれています。
NI-DAQ 7.3以降のDAQクイックスタートガイドには、NI-DAQデバイスのインストールと構成の手順が記載されています。

NI-DAQmx ヘルプには、NI-DAQmx ドライバを使用するアプリケーションの作成に関する情報が含まれています。

校正するデバイスの詳細については、
アナログ出力シリーズのヘルプ。

試験装置

図 1 は、デバイスの校正に必要なテスト機器を示しています。特定の DMM、キャリブレータ、およびカウンタの接続については、「キャリブレーションプロセス」セクションで説明されています。

形 1. キャリブレーション接続
キャリブレーションを実行する場合、ナショナルインスツルメンツでは、AO デバイスのキャリブレーションに次の機器を使用することをお勧めします。

キャリブレーター - Fluke 5700A。その機器が利用できない場合は、高精度のボリュームを使用してください。tag50 ビットおよび 12 ビットボードの場合は少なくとも 13 ppm、10 ビットボードの場合は 16 ppm の精度のソース。
DMM—NI 4070。その計測器が利用できない場合は、精度 5.5 ppm (40%) のマルチレンジ 0.004 桁 DMM を使用してください。

カウンタ - ヒューレット・パッカード 53131A。その機器が利用できない場合は、0.01% までの精度のカウンターを使用してください。
低熱銅 EMF プラグインケーブル - Fluke 5440A-7002。標準のバナナケーブルは使用しないでください。

DAQケーブル—NIでは、NI 68X/68Xを搭載したSH671-673-EPやNI 68Xを搭載したSH68-C672-Sなどのシールドケーブルを使用することを推奨しています。
次の DAQ アクセサリのいずれか:

– SCB-68 - SCB-68 は、68 ピンまたは 68 ピンの DAQ デバイスへの信号接続を容易にする 100 個のネジ端子を備えたシールド I/O コネクタブロックです。
– CB-68LP/CB-68LPR/TBX-68 - CB-68LP、CB-68LPR、および TBX-68 は、フィールド I/O 信号を 68 ピン DAQ デバイスに簡単に接続できる 68 個のネジ端子を備えた低コストの終端アクセサリです。

テストに関する考慮事項

キャリブレーション中の接続とテスト条件を最適化するには、次のガイドラインに従ってください。

NI 671X/672X/673X への接続は短くしてください。長いケーブルやワイヤはアンテナとして機能し、余分なノイズを拾い、測定に影響を与える可能性があります。
デバイスへのすべてのケーブル接続には、シールド付き銅線を使用してください。

ノイズと熱オフセットを排除するには、ツイストペア線を使用します。
温度を 18 ～ 28 °C に維持してください。この範囲外の特定の温度でモジュールを動作させるには、その温度でデバイスを校正します。

相対湿度を 80% 未満に保ってください。
測定回路が安定した動作温度になるように、少なくとも 15 分間のウォームアップ時間を設けてください。

校正プロセス

このセクションでは、デバイスの検証と調整の手順について説明します。
校正プロセスが終了しましたview
校正プロセスには XNUMX つのステップがあります。

初期セットアップ—NI-DAQmxでデバイスを構成します。

AO 検証手順 - デバイスの既存の動作を検証します。このステップにより、キャリブレーション前にデバイスが指定された範囲内で動作していたことを確認できます。
AO 調整手順 - 既知のボリュームに対してデバイスのキャリブレーション定数を調整する外部キャリブレーションを実行します。tag電子ソース。

調整後にデバイスが仕様の範囲内で動作していることを確認するために、別の検証を実行します。これらの手順については、次のセクションで詳しく説明します。デバイスのすべての範囲を完全に検証するには時間がかかる可能性があるため、関心のある範囲のみを検証することをお勧めします。

初期設定
NI-DAQmx はすべての AO デバイスを自動的に検出します。ただし、ドライバがデバイスと通信するには、NI-DAQmx でドライバを構成する必要があります。
NI-DAQmxでデバイスを構成するには、次の手順を実行します。

NI-DAQmxドライバソフトウェアをインストールします。
デバイスを搭載するコンピュータの電源を切り、空きスロットにデバイスを取り付けます。
コンピュータの電源を入れ、Measurement & Automation Explorer (MAX) を起動します。
デバイス識別子を構成し、セルフテストを選択して、デバイスが適切に動作していることを確認します。

注記デバイスがMAXで構成されている場合には、デバイス識別子が割り当てられます。
関数呼び出しでは、この識別子を使用して、どの DAQ デバイスをキャリブレーションするかを決定します。

AO 検証手順

検証により、DAQ デバイスが仕様をどの程度満たしているかが判断されます。この手順を実行すると、デバイスが時間の経過とともにどのように動作したかを確認できます。この情報を使用して、アプリケーションに適切なキャリブレーション間隔を決定することができます。
検証手順は、デバイスの主要な機能に分かれています。検証プロセス全体を通じて、「AO デバイステスト制限」セクションの表を使用して、デバイスを調整する必要があるかどうかを判断します。
アナログ出力の検証
この手順では、アナログ出力のパフォーマンスをチェックします。次の手順で測定値を確認します。

表 0 に示すように、DMM を AO 1 に接続します。
テーブル 1. DMMをAO <0..7>に接続する

出力チャンネル	DMM 正入力	DMM 負入力
AO0 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 0 (ピン 22)	AO GND (ピン 56)
AO1 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 1 (ピン 21)	AO GND (ピン 55)
AO2 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 2 (ピン 57)	AO GND (ピン 23)

テーブル 1. DMMをAO <0..7>に接続する（続き）

出力チャンネル	DMM 正入力	DMM 負入力
AO3 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 3 (ピン 25)	AO GND (ピン 59)
AO4 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 4 (ピン 60)	AO GND (ピン 26)
AO5 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 5 (ピン 28)	AO GND (ピン 61)
AO6 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 6 (ピン 30)	AO GND (ピン 64)
AO7 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 7 (ピン 65)	AO GND (ピン 31)

テーブル 2. DMMをNI 8のAO <31..6723>に接続する

出力チャンネル	DMM 正入力	DMM 負入力
AO8 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 8 (ピン 68)	AO GND (ピン 34)
AO9 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 9 (ピン 33)	AO GND (ピン 67)
AO10 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 10 (ピン 32)	AO GND (ピン 66)
AO11 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 11 (ピン 65)	AO GND (ピン 31)
AO12 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 12 (ピン 30)	AO GND (ピン 64)
AO13 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 13 (ピン 29)	AO GND (ピン 63)
AO14 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 14 (ピン 62)	AO GND (ピン 28)
AO15 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 15 (ピン 27)	AO GND (ピン 61)
AO16 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 16 (ピン 26)	AO GND (ピン 60)
AO17 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 17 (ピン 59)	AO GND (ピン 25)
AO18 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 18 (ピン 24)	AO GND (ピン 58)
AO19 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 19 (ピン 23)	AO GND (ピン 57)
AO20 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 20 (ピン 55)	AO GND (ピン 21)
AO21 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 21 (ピン 20)	AO GND (ピン 54)
AO22 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 22 (ピン 19)	AO GND (ピン 53)
AO23 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 23 (ピン 52)	AO GND (ピン 18)
AO24 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 24 (ピン 17)	AO GND (ピン 51)
AO25 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 25 (ピン 16)	AO GND (ピン 50)
AO26 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 26 (ピン 49)	AO GND (ピン 15)

テーブル 2. DMMをNI 8のAO <31..6723>に接続する（続き）

出力チャンネル	DMM 正入力	DMM 負入力
AO27 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 27 (ピン 14)	AO GND (ピン 48)
AO28 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 28 (ピン 13)	AO GND (ピン 47)
AO29 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 29 (ピン 46)	AO GND (ピン 12)
AO30 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 30 (ピン 11)	AO GND (ピン 45)
AO31 XNUMX-XNUMX-XNUMX	AO 31 (ピン 10)	AO GND (ピン 44)

検証するデバイスに対応する AO デバイステスト制限セクションの表を選択します。この表には、デバイスの許容可能な設定がすべて表示されます。NI ではすべての範囲を検証することをお勧めしますが、アプリケーションで使用される範囲のみをチェックすることで時間を節約することもできます。

DAQmxCreateTaskを使用してタスクを作成します。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
次のパラメータを使用してDAQmxCreateTaskを呼び出します。タスク名: マイAOVoltag電子タスクタスクハンドル: &タスクハンドル	ラボVIEW この手順は必要ありません。

AO ボリュームを追加するtagDAQmxCreateAOVolを使用したタスクtageChan (DAQmx 仮想チャンネル作成 VI) を使用し、チャンネル AO 0 を構成します。AO デバイステスト制限セクションの表を使用して、デバイスの最小値と最大値を決定します。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
DAQmxCreateAOVolを呼び出すtageChan に次のパラメータを指定します。タスクハンドル: タスクハンドル物理チャネル: dev1/aoO チャネルに割り当てる名前: AOVoltag電子チャンネル最小値: -10.0 最大値: 10.0 ユニット: DAQmx_Val_Volts カスタムスケール名：ヌル

DAQmxStartTask（DAQmx Start Task VI）を使用して収集を開始します。

NI-DAQ関数呼び出し ラボVIEW ブロック図

次のパラメータを使用して DAQmxStartTask を呼び出します。
タスクハンドル: タスクハンドル

ボリュームを書くtag「AOデバイステスト制限」セクションのデバイスの表を使用して、DAQmxWriteAnalogF64（DAQmx書き込みVI）を使用してAOチャネルに接続します。

NI-DAQ関数呼び出し

ラボVIEW ブロック図

次のパラメータを使用して DAQmxWriteAnalogF64 を呼び出します。
タスクハンドル: タスクハンドル numSampスパチャン: 1自動スタート: 1

タイムアウト: 10.0

データレイアウト:

DAQmx_Val_GroupByChannel 配列の書き込み：＆データ sampsPerChan 書き込み:&sampレスライティング

予約済み：ヌル

NATIONAL INSTRUMENTS NI DAQmx の AO 波形キャリブレーション手順 - 図 2

DMM によって表示される結果の値を表の上限および下限と比較します。値がこれらの制限内にある場合、テストは合格したとみなされます。
DAQmxClearTask (DAQmx Clear Task VI) を使用して取得をクリアします。

NI-DAQ関数呼び出し ラボVIEW ブロック図

次のパラメータを使用して DAQmxClearTask を呼び出します。
タスクハンドル: タスクハンドル
すべての値のテストが完了するまで、手順 4 ～ 8 を繰り返します。

DMM を AO 0 から切断し、次のチャネルに再接続して、表 1 に示すように接続します。
すべてのチャネルを確認するまで、手順 4 ～ 10 を繰り返します。
DMM をデバイスから切断します。

デバイスのアナログ出力レベルの検証が完了しました。

カウンター検証
この手順では、カウンターのパフォーマンスを検証します。AO デバイスには検証するタイムベースが 0 つしかないため、カウンター XNUMX のみをチェックする必要があります。このタイムベースを調整することはできないため、検証のみを実行できます。
以下の手順に従ってチェックを実行します。

カウンタの正入力を CTR 0 OUT (ピン 2) に接続し、カウンタの負入力を D GND (ピン 35) に接続します。

DAQmxCreateTaskを使用してタスクを作成します。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
次のパラメータを使用してDAQmxCreateTaskを呼び出します。タスク名: マイカウンター出力タスクタスクハンドル: &タスクハンドル	ラボVIEW この手順は必要ありません。

DAQmxCreateCOPulseChanFreq (DAQmx Create Virtual Channel VI) を使用してタスクにカウンター出力チャネルを追加し、チャネルを構成します。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
次のパラメータを使用して DAQmxCreateCOPulseChanFreq を呼び出します。タスクハンドル: タスクハンドルカウンタ: dev1/ctr0 チャネルに割り当てる名前: カウンター出力チャネルユニット: DAQmx_Val_Hz アイドル状態: DAQmx_Val_Low 初期遅延: 0.0 頻度: 5000000.0 デューティサイクル：.5

DAQmxCfgImplicitTiming (DAQmx Timing VI) を使用して、連続方形波生成用にカウンターを構成します。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
次のパラメータを使用して DAQmxCfgImplicitTiming を呼び出します。タスクハンドル: タスクハンドル sampleMode: DAQmx_Val_ContSamps sampスパチャン: 10000

DAQmxStartTask (DAQmx Start Task VI) を使用して方形波の生成を開始します。

NI-DAQ関数呼び出し ラボVIEW ブロック図

次のパラメータを使用して DAQmxStartTask を呼び出します。
タスクハンドル: タスクハンドル
DAQmxStartTask 関数の実行が完了すると、デバイスは 5 MHz の矩形波の生成を開始します。カウンタによって読み取られた値を、デバイステーブルに表示されているテスト制限と比較します。値がこれらの制限の範囲内であれば、テストは合格とみなされます。
DAQmxClearTask (DAQmx Clear Task VI) を使用して生成をクリアします。

NI-DAQ関数呼び出し ラボVIEW ブロック図

次のパラメータを使用して DAQmxClearTask を呼び出します。
タスクハンドル: タスクハンドル

カウンターをデバイスから取り外します。
デバイスのカウンターが確認されました。

AO調整手順

AO 調整手順を使用して、アナログ出力校正定数を調整します。各校正手順の終了時に、これらの新しい定数は EEPROM の外部校正領域に保存されます。これらの値はパスワードで保護されており、計測研究所によって調整された校正定数への誤ったアクセスや変更が防止されます。デフォルトのパスワードは NI です。
キャリブレーターを使用してデバイスの調整を実行するには、次の手順を実行します。

表 3 に従って、キャリブレーターをデバイスに接続します。
表 3. キャリブレーターとデバイスの接続

671X/672X/673X ピン 校正器

AO EXT REF (ピン 20) 高出力

AO GND (ピン 54) 低出力

ボリュームを出力するようにキャリブレーターを設定します。tag5 V の e。

DAQmxInitExtCal（DAQmx Initialize External Calibration VI）を使用してデバイス上でキャリブレーションセッションを開きます。デフォルトのパスワードは NI です。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
次のパラメータを使用して DAQmxInitExtCal を呼び出します。デバイス名: dev1 パスワード: NI calHandle: &calHandle

DAQmxESeriesCalAdjust (DAQmx Adjust AO-Series Calibration VI) を使用して外部キャリブレーション調整を実行します。

NI-DAQ関数呼び出し ラボVIEW ブロック図

次のパラメータを使用して DAQmxAOSeriesCalAdjust を呼び出します。
calHandle: calHandle
参考文献tage：5

DAQmxCloseExtCal（DAQmxClose外部キャリブレーション）を使用して、調整をEEPROMまたはオンボードメモリに保存します。この機能は、調整の日付、時刻、温度もオンボードメモリに保存します。

NI-DAQ関数呼び出し	ラボVIEW ブロック図
次のパラメータを使用して DAQmxCloseExtCal を呼び出します。 calHandle: calHandle アクション: DAQmx_Val_ アクション_コミット

キャリブレーターをデバイスから取り外します。

これで、デバイスは外部ソースに対して調整されました。
デバイスを調整した後、アナログ出力の動作を確認することができます。これを行うには、「AO デバイスのテスト制限」セクションの 24 時間のテスト制限を使用して、「AO 検証手順」セクションの手順を繰り返します。

AO デバイスのテスト制限

このセクションの表には、NI 671X/672X/673X の検証および調整時に使用する精度仕様がリストされています。表には、1 年と 24 時間の両方の校正間隔の仕様が表示されます。 1 年の範囲には、校正間隔が 24 年である場合にデバイスが満たすべき仕様が表示されます。デバイスが外部ソースで校正されている場合、XNUMX 時間テーブルに示されている値が有効な仕様です。
テーブルの使用
次の定義では、このセクションの表の情報の使用方法を説明します。
範囲
範囲とは、最大許容ボリュームを指しますtag出力信号の範囲。
テストポイント
テストポイントはボリュームですtag検証目的で生成される値。この値は、場所と値の XNUMX つの列に分かれています。位置とは、テスト値がテスト範囲内に収まる場所を指します。 Pos FS は正のフルスケールを表し、Neg FS は負のフルスケールを表します。値はボリュームを指しますtag値は検証する必要があり、単位はボルトです。
24 時間の範囲
「24 時間範囲」列には、テストポイント値の上限と下限が含まれます。つまり、デバイスが 24 時間の校正間隔内にある場合、テストポイントの値は上限値と下限値の間に収まる必要があります。上限と下限はボルトで表されます。
1 年の範囲
「1 年の範囲」列には、テストポイント値の上限と下限が含まれます。つまり、デバイスが 1 年の校正間隔内にある場合、テストポイントの値は上限値と下限値の間に収まる必要があります。上限と下限はボルトで表されます。
カウンター
カウンタ/タイマーの分解能を調整することはできません。したがって、これらの値には 1 年間または 24 時間の校正期間がありません。ただし、テストポイントおよび上限値と下限値は検証目的で提供されています。
NI 6711/6713—12ビット解像度
表4. NI 6711/6713 アナログ出力値

範囲（V）		テストポイント		24 時間の範囲		1年範囲
最小	最大	位置	値（V）	下限値(V)	上限値(V)	下限値(V)	上限値(V)
–10	10	0	0.0	–0.0059300	0.0059300	–0.0059300	0.0059300
–10	10	位置FS	9.9900000	9.9822988	9.9977012	9.9818792	9.9981208
–10	10	ネガFS	–9.9900000	–9.9977012	–9.9822988	–9.9981208	–9.9818792

表5. NI 6711/6713 カウンタ値

設定値 (MHz)	上限値(MHz)	下限値(MHz)
5	5.0005	4.9995

NI 6722/6723—13ビット解像度
表6. NI 6722/6723 アナログ出力値

範囲（V）		テストポイント		24 時間の範囲		1年範囲
最小	最大	位置	値（V）	下限値(V)	上限値(V)	下限値(V)	上限値(V)
–10	10	0	0.0	–0.0070095	0.0070095	–0.0070095	0.0070095
–10	10	位置FS	9.9000000	9.8896747	9.9103253	9.8892582	9.9107418
–10	10	ネガFS	–9.9000000	–9.9103253	–9.8896747	–9.9107418	–9.8892582

表7. NI 6722/6723 カウンタ値

設定値 (MHz)	上限値(MHz)	下限値(MHz)
5	5.0005	4.9995

NI 6731/6733—16ビット解像度
表8. NI 6731/6733 アナログ出力値

範囲（V）		テストポイント		24 時間の範囲		1年範囲
最小	最大	位置	値（V）	下限値(V)	上限値(V)	下限値(V)	上限値(V)
–10	10	0	0.0	–0.0010270	0.0010270	–0.0010270	0.0010270
–10	10	位置FS	9.9900000	9.9885335	9.9914665	9.9883636	9.9916364
–10	10	ネガFS	–9.9900000	–9.9914665	–9.9885335	–9.9916364	–9.9883636

表9. NI 6731/6733 カウンタ値

設定値 (MHz)	上限値(MHz)	下限値(MHz)
5	5.0005	4.9995

CVI™、ラボVIEW™、ナショナルインスツルメンツ™、NI™、 ni.com™、およびNI-DAQ™はNational Instruments Corporationの商標です。記載されている製品名および会社名は、各社の商標または商号です。ナショナルインスツルメンツ製品をカバーする特許については、適切な場所を参照してください: ヘルプ>>ソフトウェアの特許、patents.txt file CD 上、または ni.com/特許.
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04年XNUMX月

ドキュメント / リソース

NATIONAL INSTRUMENTS AO 波形キャリブレーション手順 (NI-DAQmx 用) [pdf] ユーザーガイド
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参考文献

ユーザーマニュアル