STMicroelectronics TN1317 Configurazione del test automatico per il manuale utente del dispositivo SPC58xNx
Scopri come configurare l'unità di controllo di autotest per i dispositivi SPC58xNx con STMicroelectronics TN1317. Questa guida tratta l'autotest integrato di memoria e logica (MBIST e LBIST) per il rilevamento di errori latenti. Scopri come eseguire l'autotest sia in modalità online che offline, nonché la configurazione MBIST consigliata. Per maggiori dettagli consultare il capitolo 7 del manuale di riferimento RM0421 SPC58xNx.