STMicroelectronics TN1317 Configuración de autoprueba para dispositivo SPC58xNx Manual de usuario
Aprende a configurar a unidade de control de autotest para dispositivos SPC58xNx con STMicroelectronics TN1317. Esta guía abarca a autoproba de memoria e lóxica integrada (MBIST e LBIST) para detectar fallos latentes. Descubra como realizar a autoproba en modo en liña e fóra de liña, así como a configuración MBIST recomendada. Para máis detalles, consulte o capítulo 7 do manual de referencia RM0421 SPC58xNx.